 기본정보 |
설비번호 |
10138812 |
장비명(한글) |
 공초점 레이저 주사 현미경
|
장비명(영문) |
Confocal Laser Scanning Microscope |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
FV3000 |
| 상세정보 |
장비사양 |
The FLUOVIEW FV3000 series of confocal laser scanning microscopes meets some of the most difficult challenges in modern science. Featuring the high sensitivity and speed required for live cell imaging as well as deep tissue observation, the FV3000 confocal microscope enables a wide range of imaging modalities, including macro-to-micro imaging, super resolution microscopy, and quantitative data analysis. |
활용분야 |
developmental biology, stem cell research, electrophysiology, cancer research, slide imaging, and more |
| 장비운영인력 |
설치장소 |
환경공학동 333호
|
소속 |
화학공학과 |
성명 |
차형준 |
전화 |
054-279-2280 |
이메일 |
hjcha@postech.ac.kr |
| 동일/유사장비정보 |
장비명 |
연구용 삼안 현미경(Reseach Trinocular Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
BX43 |
설치장소 |
383호
|
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장비명 |
투포톤 현미경(3D 홀로그래픽 다광자 현미경)(Ultima 2-Photon Microscope) |
제작사 |
bruker |
모델명 |
Ultims 2P plus |
설치장소 |
C5
|
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장비명 |
대면적 형광 현미경(Multidiscussion Fluorescence Motorized Microscope) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
Axio Imager M2 |
설치장소 |
C5
|
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장비명 |
레이저 시스템(Tunable Laser System) |
제작사 |
Amplitude |
모델명 |
Surelite OPO |
설치장소 |
C5 228호
|
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장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
Park Systems |
모델명 |
XE7 |
설치장소 |
C5 228호
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장비명 |
도립 현미경(Inverted Microscope) |
제작사 |
MCL |
모델명 |
MCL-NSOM |
설치장소 |
C5 228호
|
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장비명 |
펄스 레이저 증착 시스템(Pulsed Laser Deposition (PLD) System) |
제작사 |
한빛레이저 |
모델명 |
GPPA-A377 |
설치장소 |
C5 329호
|
|
장비명 |
레이저 용접 시스템(Laser Mould Welder) |
제작사 |
효성레이저 |
모델명 |
- |
설치장소 |
C5 MAKER SPACE 3(지하)
|
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장비명 |
중 적외선 레이저(Mid-infrared laser) |
제작사 |
Daylight Solutions |
모델명 |
MIRCcat-QT-2100 |
설치장소 |
C5 [232호]실험실
|
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장비명 |
공초점 레이저 주사 현미경 (Confocal Laser Scanning Microscope ) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
LSM 900 with Airyscan 2 |
설치장소 |
C5, 722호(바이오헬스케어센터)
|
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장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
Park Systems |
모델명 |
XE7 |
설치장소 |
RIST1동 1139호
|
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장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
Bruker |
모델명 |
Dimension Icon with ScanAsyst |
설치장소 |
RIST1동 1152호
|
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장비명 |
전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
GeminiSEM 500 |
설치장소 |
RIST1동 1153호
|
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장비명 |
전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
AURIGA |
설치장소 |
RIST1동 1163호
|
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장비명 |
주사형 오제 전자현미경(Scanning Auger Electron Spectroscopy (AES) Nanoprobe) |
제작사 |
ULVAC-PHI |
모델명 |
PHI 700 |
설치장소 |
RIST1동 1163호
|
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장비명 |
수차보정 주사투과전자현미경(Cs-Corrected Scanning Transmission Electron Microscope (Cs-STEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-ARM200F |
설치장소 |
RIST1동 1176호
|
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장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JSM-6480LV |
설치장소 |
RIST1동 1187호
|
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장비명 |
전계방출 현미경(Field Emission Electron Microscope) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-2100F |
설치장소 |
RIST1동 1188호
|
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장비명 |
시차열분석/시차주사열량분석기(Differential Thermal Analysis (DTA)/Differential Scanning Calorimeter (DSC)) |
제작사 |
SETARAM Instrumentation |
모델명 |
Labsys DTA/DSC |
설치장소 |
RIST1동 1188호
|
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장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
HITACHI |
모델명 |
S-3400N |
설치장소 |
RIST1동 1190호
|
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장비명 |
전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JSM-7600F |
설치장소 |
RIST1동 1192호
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장비명 |
레이저 유도 플라즈마 분광분석기(Tandem Laser-ablation Laser-induced Breakdown Spectrometer (LA-LIBS)) |
제작사 |
Applied Spectra |
모델명 |
J200 |
설치장소 |
RIST1동 1306호
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장비명 |
레이저 회절 입자 분석기(Laser Diffraction Particle Size Analyzer) |
제작사 |
Malvern Instruments |
모델명 |
MASTERSIZER 2000 |
설치장소 |
RIST1동 1320호
|
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장비명 |
전동 디지털 현미경(Opto-digital Motorizing Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
DSX100 |
설치장소 |
RIST2동 2179호
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장비명 |
공초점 레이저 주사 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
OLS3000 |
설치장소 |
RIST2동 2179호
|
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장비명 |
주사 투과 전자현미경(Scanning Transmission Electron Microscope (STEM)) |
제작사 |
COXEM |
모델명 |
CX-200 |
설치장소 |
RIST3동 3188호
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장비명 |
엑시머 레이저 시스템(Excimer Laser System) |
제작사 |
COHERENT |
모델명 |
COMPex 201 F |
설치장소 |
RIST3동 3263호
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장비명 |
펄스 레이저 증착 시스템(Pulsed Laser Deposition (PLD) System) |
제작사 |
HIGGSLAB |
모델명 |
PLD SYSTEM |
설치장소 |
RIST3동 3263호
|
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장비명 |
열중량-시차주사열량분석기(Thermogravimetric Analysis-Differential Scanning Calorimetry (TGA-DSC)) |
제작사 |
TA Instruments |
모델명 |
SDT Q600 |
설치장소 |
RIST3동 3278호
|
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장비명 |
펄스 레이저 증착 시스템(Pulsed Laser Deposition (PLD) System) |
제작사 |
COHERENT |
모델명 |
COMPex Pro 102 F |
설치장소 |
RIST3동 3282호
|
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장비명 |
색소 레이저(Dye Laser) |
제작사 |
COHERENT |
모델명 |
899 |
설치장소 |
RIST3동 3289호
|
|
장비명 |
시차 주사 열량측정기(Differential Scanning Calorimeter (DSC)) |
제작사 |
PerkinElmer |
모델명 |
DSC 4000 |
설치장소 |
RIST3동 3312호
|
|
장비명 |
편광 현미경(Polarized Stereo Microscope) |
제작사 |
Leica Microsystems |
모델명 |
Z16 APO |
설치장소 |
가속기 저장링동 106호
|
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장비명 |
도립 형광 현미경(Fluorescence Inverted Microscope) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
Axio Observer A1 |
설치장소 |
가톨릭대 의생명공학연구소
|
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장비명 |
형광 현미경(Fluorescence Microscope) |
제작사 |
제이원 |
모델명 |
Axio Zoom.V16 |
설치장소 |
가톨릭대 의생명공학연구소
|
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장비명 |
주사전자현미경(S.E.M(SCANNING ELECTRON MICROSCOPE)) |
제작사 |
JEOL LTD |
모델명 |
JSM-6390LV |
설치장소 |
기계실험동 106호
|
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장비명 |
다이오드 레이져 시스템(Diode Laser System) |
제작사 |
COHERENT |
모델명 |
Chameleon Vision 2 |
설치장소 |
기계실험동 206호
|
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장비명 |
펨토초 펄스 레이저 시스템(Femtosecond Pulse Laser System) |
제작사 |
COHERENT |
모델명 |
Chameleon |
설치장소 |
기계실험동 206호
|
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장비명 |
레이저 구동 광원(Laser-driven Light Source (LSDS)) |
제작사 |
ENERGETIQ TECHNOLOGY |
모델명 |
EQ-1500 |
설치장소 |
기계실험동 206호
|
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장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JSM-7401F |
설치장소 |
나노융합기술원 103호
|
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장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
Veeco |
모델명 |
Dimension 3100 |
설치장소 |
나노융합기술원 1층 101호
|
|
장비명 |
초고진공저온 주사터널링현미경(Ultra High Vacuum Low Temperature Scanning Tunneling Microscopy (STM)) |
제작사 |
Unisoku |
모델명 |
USM 1200 |
설치장소 |
나노융합기술원 1층 101호
|
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장비명 |
마스크리스 레이저 리소그래피(Maskless Laser Lithography, MLA150) |
제작사 |
주식회사나우 |
모델명 |
MLA150 |
설치장소 |
나노융합기술원 2층 216호
|
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장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-2100F(with STEM Cs corrector) |
설치장소 |
나노융합기술원 TEM 실
|
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장비명 |
구면수차보정 초고분해능 주사투과전자현미경(Cs Corrected High-Resolution Scanning Transmission Electron Microscope
(Cs-corrected HR-STEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-2200FS |
설치장소 |
나노융합기술원 TEM-2200FS실
|
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장비명 |
전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)) |
제작사 |
LEO Elektronrnmikroskopie GmbH |
모델명 |
FE-SEM |
설치장소 |
나노융합기술원 클린룸동 2층 클린룸
|
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장비명 |
레이저 리소그래피 시스템(Laser Lithography system) |
제작사 |
Heidelberg Instruments |
모델명 |
DWL-200 |
설치장소 |
나노융합기술원 클린룸동 2층 클린룸
|
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장비명 |
임계치수 측정 주사전자현미경(Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM)) |
제작사 |
HITACHI |
모델명 |
S-9380 |
설치장소 |
나노융합기술원 클린룸동 2층 클린룸
|
|
장비명 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope (TEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-1011 |
설치장소 |
생명공학연구센터 156호
|
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장비명 |
도립 현미경(Inverted Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
IX81 |
설치장소 |
생명공학연구센터 328호
|
|
장비명 |
레이저 미세 해부 시스템(Laser Microdissection Microscope System) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
PALM MicroBeam |
설치장소 |
생명공학연구센터 341호
|
|
장비명 |
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-2100 (HR) |
설치장소 |
제1공학관 105호
|
|
장비명 |
구면수차보정 초고분해능 주사투과전자현미경(Cs Corrected High-Resolution Scanning Transmission Electron Microscope(Cs-corrected HR-STEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-2200FS (UHR) |
설치장소 |
제1공학관 109호
|
|
장비명 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope (TEM)) |
제작사 |
HITACHI |
모델명 |
7600H |
설치장소 |
제1공학관 111호
|
|
장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
HITACHI |
모델명 |
S-3400N |
설치장소 |
제1공학관 111호
|
|
장비명 |
시차 주사 열량측정기(Differential Scanning Calorimeter (DSC)) |
제작사 |
SETARAM Instrumentation |
모델명 |
Labsys Evo |
설치장소 |
제1공학관 112호
|
|
장비명 |
레이저 시스템(Laser System) |
제작사 |
KIMMON KOHA |
모델명 |
IK3301R-G |
설치장소 |
제1공학관 206호
|
|
장비명 |
엑시머 레이저 시스템(Excimer Laser System) |
제작사 |
LAMBDA PHYSIK AG |
모델명 |
Compex 205 |
설치장소 |
제1공학관 208호
|
|
장비명 |
주사 프로브 현미경(Scanning Probe Microscope (SPM)) |
제작사 |
Veeco |
모델명 |
Dimension 3100 |
설치장소 |
제1공학관 208호
|
|
장비명 |
전계방사형 주사전자 현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)) |
제작사 |
PHILIPS ELECTRON OPTICS B.V. |
모델명 |
XL30S FEG |
설치장소 |
제1공학관 306-1호
|
|
장비명 |
도립 현미경(Inverted Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
IX71 |
설치장소 |
제2공학관 033호
|
|
장비명 |
DPSS 레이저(Diode-pumped Solid-state (DPSS) Laser) |
제작사 |
LIGHTHOUSE PHOTONICS |
모델명 |
Sprout-G-12W |
설치장소 |
제2공학관 504호
|
|
장비명 |
반도체 레이저(Tunable Semiconductor Laser) |
제작사 |
Santec |
모델명 |
TSL-550 |
설치장소 |
제3공학관 308호
|
|
장비명 |
현미경 Stage 및 조절 시스템(Microscope Stage and Controller System) |
제작사 |
Applied Scientific Instrumentation (ASI) |
모델명 |
MS-2000 |
설치장소 |
제3공학관 006호
|
|
장비명 |
엑시머 레이저 시스템(Excimer Laser System) |
제작사 |
COHERENT |
모델명 |
COMPex Pro |
설치장소 |
제3공학관 206호
|
|
장비명 |
다이오드 레이저 조절기(Digital Controller for Diode Lasers) |
제작사 |
Toptica Photonics |
모델명 |
DLC pro |
설치장소 |
제3공학관 402호
|
|
장비명 |
펨토초 펄스 레이저 시스템(Femtosecond Pulse Laser System) |
제작사 |
COHERENT |
모델명 |
Chameleon |
설치장소 |
제3공학관 502A호
|
|
장비명 |
엑시머 레이저 시스템(Excimer Laser System) |
제작사 |
COHERENT |
모델명 |
COMPex Pro 199F |
설치장소 |
제3공학관 508호
|
|
장비명 |
다목적 박막 표면구조 분석 원자 현미경 장비(Muti-purpose Atomic Force Microscope (AFM) System) |
제작사 |
Bruker |
모델명 |
MultiMode 8 |
설치장소 |
제3공학관 529호
|
|
장비명 |
나노시스 SPM 조절 시스템(Nanonis Scanning Probe Microscopy (SPM) Control System) |
제작사 |
SPECS |
모델명 |
SPECS Nanonis Controller |
설치장소 |
제5공학관 008호
|
|
장비명 |
도립 현미경(Inverted Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
CKX41 |
설치장소 |
제5공학관 204호
|
|
장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
SEIKO INSTRUMENTS INC. |
모델명 |
SPI3800N Pro |
설치장소 |
제5공학관 206-1호
|
|
장비명 |
열중량-시차주사열량분석기(Thermogravimetric Analysis-Differential Scanning Calorimetry (TGA-DSC)) |
제작사 |
Mettler Toledo |
모델명 |
Mettler Toledo AG |
설치장소 |
제5공학관 206호
|
|
장비명 |
펨토초 레이저 시스템(Femtosecond Laser System) |
제작사 |
COHERENT |
모델명 |
Libra |
설치장소 |
제5공학관 406호
|
|
장비명 |
파장 가변형 나노초 레이저(Tunable Wavelength Nanosecond Lasers) |
제작사 |
EKSPLA |
모델명 |
NT352 |
설치장소 |
제5공학관 406호
|
|
장비명 |
레이저 유도붕괴 분광기(Laser-induced Breakdown Spectroscopy (LIBS)) |
제작사 |
Applied Spectra |
모델명 |
Aurora LIBS module |
설치장소 |
제5공학관 423호
|
|
장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
Bio-logic SAS |
모델명 |
M470 |
설치장소 |
지곡연구동 228호
|
|
장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JSM-6010LV |
설치장소 |
지곡연구동 232호
|
|
장비명 |
정립현미경(Upright Microscope) |
제작사 |
Leica Microsystems |
모델명 |
DM4000 M |
설치장소 |
철강대학원 144-5호
|
|
장비명 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope (TEM)) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
Ultra-55 |
설치장소 |
철강대학원 154-6호
|
|
장비명 |
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JSM-7100F |
설치장소 |
철강대학원 154-6호
|
|
장비명 |
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-2100F |
설치장소 |
철강대학원 161호
|
|
장비명 |
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JXA-8530F |
설치장소 |
철강대학원 163호
|
|
장비명 |
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-7900F |
설치장소 |
철강대학원 163호
|
|
장비명 |
TEM용 이온밀링시스템(Ion Milling System for Transmission Electron Microscope (TEM)) |
제작사 |
㈜지엘코퍼레이션 |
모델명 |
Gatan model 691 |
설치장소 |
철강대학원 284호
|
|
장비명 |
광 자기 커 현미경(Magneto-Optical Kerr-Microscope) |
제작사 |
Evico magnetics GmbH |
모델명 |
Axio Imager D1m |
설치장소 |
철강대학원 374호
|
|
장비명 |
고온시차주사열량계(High Temperature Differential Scanning Calorimeter) |
제작사 |
㈜신코엠앤티 |
모델명 |
Labsys Evo DSC |
설치장소 |
철강대학원 480호
|
|
장비명 |
레이저 회절 입자 분석기(Laser Diffraction Particle Size Analyzer) |
제작사 |
Malvern Instruments |
모델명 |
MASTERSIZER 2000 |
설치장소 |
철강대학원 546호
|
|
장비명 |
공초점 레이저 주사 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope) |
제작사 |
Lasertec Corporation |
모델명 |
VL2000DX |
설치장소 |
철강대학원 546호
|
|
장비명 |
열중량-시차주사열량분석기(Thermogravimetric Analysis-Differential Scanning Calorimetry (TGA-DSC)) |
제작사 |
Mettler Toledo |
모델명 |
TGA/DSC1 |
설치장소 |
철강대학원 546호
|
|
장비명 |
용융점/접촉각 시스템(Heating Microscope) |
제작사 |
export system solutions s.r.i |
모델명 |
misura hsm |
설치장소 |
철강대학원 572호
|
|
장비명 |
저전압 고분해능 전계방출형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope) |
제작사 |
CARL ZEISS MICROSCOP |
모델명 |
Gemini 360 |
설치장소 |
친환경소재대학원 184, 186호
|
|
장비명 |
도립 현미경(Inverted Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
IX73 |
설치장소 |
한국로봇융합연구원 411호
|
|
장비명 |
매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량분석기(Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization Time-of-Flight (MALDI-TOF) Mass Spectrometer) |
제작사 |
BRUKER |
모델명 |
Autoflex Speed LRF |
설치장소 |
화학관 112호
|
|
장비명 |
형광 현미경(Fluorescence Microscope) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
Axiolab |
설치장소 |
환경공학동 206-1호
|
|
장비명 |
매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량분석기(Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization Time-of-Flight (MALDI-TOF) Mass Spectrometer) |
제작사 |
Bruker |
모델명 |
Autoflex Max LRF |
설치장소 |
환경공학동 320호
|
|
장비명 |
탁상형 주사전자현미경(Mini Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
SEC |
모델명 |
SNE4500M |
설치장소 |
환경공학동 322호
|
|
장비명 |
열중량-시차주사열량분석기(Thermogravimetric Analysis-Differential Scanning Calorimetry (TGA-DSC)) |
제작사 |
TA Instruments |
모델명 |
SDT Q600 |
설치장소 |
환경공학동 322호
|
|
장비명 |
형광 금속 현미경(Fluorescence Metallurgical Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
BX60 |
설치장소 |
환경공학동 333호
|
|
장비명 |
도립 형광 현미경(Inverted Fluorescence Microscope) |
제작사 |
NIKON |
모델명 |
Eclipse Ti2 |
설치장소 |
환경공학동 403호
|
|
장비명 |
탁상형 주사전자현미경(Mini Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
SEC |
모델명 |
SNE4000M |
설치장소 |
환경공학동 410호
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장비명 |
공초점 레이저 주사 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
LSM 5 |
설치장소 |
환경공학동 414호
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장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JSM-6510 |
설치장소 |
환경공학동 414호
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