 기본정보 |
설비번호 |
10076498 |
장비명(한글) |
 공초점 레이저 주사 현미경
|
장비명(영문) |
Confocal Laser Scanning Microscope |
제작사 |
Lasertec Corporation |
모델명 |
VL2000DX |
| 상세정보 |
장비사양 |
- High-speed scan of a 408nm wavelength violet laser
- Confocal image of 4,000,000 pixels (2048x2048)
- Amazing pixel resolution of 0.03μm
- 10 hour recording/reproducing function of moving images
- Maximum image generation speed of 120 frames/sec by Variable Frame Rate (VFR)
- Automatic measurement function by one click (3D, surface roughness 2D, surface roughness 3D, profile measurement)
- Multi layer 3D, Shape measurement, Roughness measurement, Film thickness measurement
- Plentiful software functions such as patch work |
활용분야 |
고온에서 진행되는 반응을 관측 |
| 장비운영인력 |
설치장소 |
철강대학원 546호
|
소속 |
철강대학원 |
성명 |
조성규 |
전화 |
054-279-9352 |
이메일 |
seongkyu0416@postech.ac.kr |
| 동일/유사장비정보 |
장비명 |
연구용 삼안 현미경(Reseach Trinocular Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
BX43 |
설치장소 |
383호
|
|
장비명 |
레이저 시스템(Tunable Laser System) |
제작사 |
Amplitude |
모델명 |
Surelite OPO |
설치장소 |
C5 228호
|
|
장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
Park Systems |
모델명 |
XE7 |
설치장소 |
C5 228호
|
|
장비명 |
도립 현미경(Inverted Microscope) |
제작사 |
MCL |
모델명 |
MCL-NSOM |
설치장소 |
C5 228호
|
|
장비명 |
펄스 레이저 증착 시스템(Pulsed Laser Deposition (PLD) System) |
제작사 |
한빛레이저 |
모델명 |
GPPA-A377 |
설치장소 |
C5 329호
|
|
장비명 |
레이저 용접 시스템(Laser Mould Welder) |
제작사 |
효성레이저 |
모델명 |
- |
설치장소 |
C5 MAKER SPACE 3(지하)
|
|
장비명 |
중 적외선 레이저(Mid-infrared laser) |
제작사 |
Daylight Solutions |
모델명 |
MIRCcat-QT-2100 |
설치장소 |
C5 [232호]실험실
|
|
장비명 |
공초점 레이저 주사 현미경 (Confocal Laser Scanning Microscope ) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
LSM 900 with Airyscan 2 |
설치장소 |
C5, 722호(바이오헬스케어센터)
|
|
장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
Park Systems |
모델명 |
XE7 |
설치장소 |
RIST1동 1139호
|
|
장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
Bruker |
모델명 |
Dimension Icon with ScanAsyst |
설치장소 |
RIST1동 1152호
|
|
장비명 |
전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
GeminiSEM 500 |
설치장소 |
RIST1동 1153호
|
|
장비명 |
전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
AURIGA |
설치장소 |
RIST1동 1163호
|
|
장비명 |
주사형 오제 전자현미경(Scanning Auger Electron Spectroscopy (AES) Nanoprobe) |
제작사 |
ULVAC-PHI |
모델명 |
PHI 700 |
설치장소 |
RIST1동 1163호
|
|
장비명 |
수차보정 주사투과전자현미경(Cs-Corrected Scanning Transmission Electron Microscope (Cs-STEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-ARM200F |
설치장소 |
RIST1동 1176호
|
|
장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JSM-6480LV |
설치장소 |
RIST1동 1187호
|
|
장비명 |
전계방출 현미경(Field Emission Electron Microscope) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-2100F |
설치장소 |
RIST1동 1188호
|
|
장비명 |
시차열분석/시차주사열량분석기(Differential Thermal Analysis (DTA)/Differential Scanning Calorimeter (DSC)) |
제작사 |
SETARAM Instrumentation |
모델명 |
Labsys DTA/DSC |
설치장소 |
RIST1동 1188호
|
|
장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
HITACHI |
모델명 |
S-3400N |
설치장소 |
RIST1동 1190호
|
|
장비명 |
전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JSM-7600F |
설치장소 |
RIST1동 1192호
|
|
장비명 |
레이저 유도 플라즈마 분광분석기(Tandem Laser-ablation Laser-induced Breakdown Spectrometer (LA-LIBS)) |
제작사 |
Applied Spectra |
모델명 |
J200 |
설치장소 |
RIST1동 1306호
|
|
장비명 |
레이저 회절 입자 분석기(Laser Diffraction Particle Size Analyzer) |
제작사 |
Malvern Instruments |
모델명 |
MASTERSIZER 2000 |
설치장소 |
RIST1동 1320호
|
|
장비명 |
전동 디지털 현미경(Opto-digital Motorizing Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
DSX100 |
설치장소 |
RIST2동 2179호
|
|
장비명 |
공초점 레이저 주사 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
OLS3000 |
설치장소 |
RIST2동 2179호
|
|
장비명 |
주사 투과 전자현미경(Scanning Transmission Electron Microscope (STEM)) |
제작사 |
COXEM |
모델명 |
CX-200 |
설치장소 |
RIST3동 3188호
|
|
장비명 |
엑시머 레이저 시스템(Excimer Laser System) |
제작사 |
COHERENT |
모델명 |
COMPex 201 F |
설치장소 |
RIST3동 3263호
|
|
장비명 |
펄스 레이저 증착 시스템(Pulsed Laser Deposition (PLD) System) |
제작사 |
HIGGSLAB |
모델명 |
PLD SYSTEM |
설치장소 |
RIST3동 3263호
|
|
장비명 |
열중량-시차주사열량분석기(Thermogravimetric Analysis-Differential Scanning Calorimetry (TGA-DSC)) |
제작사 |
TA Instruments |
모델명 |
SDT Q600 |
설치장소 |
RIST3동 3278호
|
|
장비명 |
펄스 레이저 증착 시스템(Pulsed Laser Deposition (PLD) System) |
제작사 |
COHERENT |
모델명 |
COMPex Pro 102 F |
설치장소 |
RIST3동 3282호
|
|
장비명 |
색소 레이저(Dye Laser) |
제작사 |
COHERENT |
모델명 |
899 |
설치장소 |
RIST3동 3289호
|
|
장비명 |
시차 주사 열량측정기(Differential Scanning Calorimeter (DSC)) |
제작사 |
PerkinElmer |
모델명 |
DSC 4000 |
설치장소 |
RIST3동 3312호
|
|
장비명 |
편광 현미경(Polarized Stereo Microscope) |
제작사 |
Leica Microsystems |
모델명 |
Z16 APO |
설치장소 |
가속기 저장링동 106호
|
|
장비명 |
도립 형광 현미경(Fluorescence Inverted Microscope) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
Axio Observer A1 |
설치장소 |
가톨릭대 의생명공학연구소
|
|
장비명 |
형광 현미경(Fluorescence Microscope) |
제작사 |
제이원 |
모델명 |
Axio Zoom.V16 |
설치장소 |
가톨릭대 의생명공학연구소
|
|
장비명 |
주사전자현미경(S.E.M(SCANNING ELECTRON MICROSCOPE)) |
제작사 |
JEOL LTD |
모델명 |
JSM-6390LV |
설치장소 |
기계실험동 106호
|
|
장비명 |
다이오드 레이져 시스템(Diode Laser System) |
제작사 |
COHERENT |
모델명 |
Chameleon Vision 2 |
설치장소 |
기계실험동 206호
|
|
장비명 |
펨토초 펄스 레이저 시스템(Femtosecond Pulse Laser System) |
제작사 |
COHERENT |
모델명 |
Chameleon |
설치장소 |
기계실험동 206호
|
|
장비명 |
레이저 구동 광원(Laser-driven Light Source (LSDS)) |
제작사 |
ENERGETIQ TECHNOLOGY |
모델명 |
EQ-1500 |
설치장소 |
기계실험동 206호
|
|
장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JSM-7401F |
설치장소 |
나노융합기술원 103호
|
|
장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
Veeco |
모델명 |
Dimension 3100 |
설치장소 |
나노융합기술원 1층 101호
|
|
장비명 |
초고진공저온 주사터널링현미경(Ultra High Vacuum Low Temperature Scanning Tunneling Microscopy (STM)) |
제작사 |
Unisoku |
모델명 |
USM 1200 |
설치장소 |
나노융합기술원 1층 101호
|
|
장비명 |
마스크리스 레이저 리소그래피(Maskless Laser Lithography, MLA150) |
제작사 |
주식회사나우 |
모델명 |
MLA150 |
설치장소 |
나노융합기술원 2층 216호
|
|
장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-2100F(with STEM Cs corrector) |
설치장소 |
나노융합기술원 TEM 실
|
|
장비명 |
구면수차보정 초고분해능 주사투과전자현미경(Cs Corrected High-Resolution Scanning Transmission Electron Microscope
(Cs-corrected HR-STEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-2200FS |
설치장소 |
나노융합기술원 TEM-2200FS실
|
|
장비명 |
전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)) |
제작사 |
LEO Elektronrnmikroskopie GmbH |
모델명 |
FE-SEM |
설치장소 |
나노융합기술원 클린룸동 2층 클린룸
|
|
장비명 |
레이저 리소그래피 시스템(Laser Lithography system) |
제작사 |
Heidelberg Instruments |
모델명 |
DWL-200 |
설치장소 |
나노융합기술원 클린룸동 2층 클린룸
|
|
장비명 |
임계치수 측정 주사전자현미경(Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM)) |
제작사 |
HITACHI |
모델명 |
S-9380 |
설치장소 |
나노융합기술원 클린룸동 2층 클린룸
|
|
장비명 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope (TEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-1011 |
설치장소 |
생명공학연구센터 156호
|
|
장비명 |
도립 현미경(Inverted Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
IX81 |
설치장소 |
생명공학연구센터 328호
|
|
장비명 |
레이저 미세 해부 시스템(Laser Microdissection Microscope System) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
PALM MicroBeam |
설치장소 |
생명공학연구센터 341호
|
|
장비명 |
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-2100 (HR) |
설치장소 |
제1공학관 105호
|
|
장비명 |
구면수차보정 초고분해능 주사투과전자현미경(Cs Corrected High-Resolution Scanning Transmission Electron Microscope(Cs-corrected HR-STEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-2200FS (UHR) |
설치장소 |
제1공학관 109호
|
|
장비명 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope (TEM)) |
제작사 |
HITACHI |
모델명 |
7600H |
설치장소 |
제1공학관 111호
|
|
장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
HITACHI |
모델명 |
S-3400N |
설치장소 |
제1공학관 111호
|
|
장비명 |
시차 주사 열량측정기(Differential Scanning Calorimeter (DSC)) |
제작사 |
SETARAM Instrumentation |
모델명 |
Labsys Evo |
설치장소 |
제1공학관 112호
|
|
장비명 |
레이저 시스템(Laser System) |
제작사 |
KIMMON KOHA |
모델명 |
IK3301R-G |
설치장소 |
제1공학관 206호
|
|
장비명 |
엑시머 레이저 시스템(Excimer Laser System) |
제작사 |
LAMBDA PHYSIK AG |
모델명 |
Compex 205 |
설치장소 |
제1공학관 208호
|
|
장비명 |
주사 프로브 현미경(Scanning Probe Microscope (SPM)) |
제작사 |
Veeco |
모델명 |
Dimension 3100 |
설치장소 |
제1공학관 208호
|
|
장비명 |
전계방사형 주사전자 현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)) |
제작사 |
PHILIPS ELECTRON OPTICS B.V. |
모델명 |
XL30S FEG |
설치장소 |
제1공학관 306-1호
|
|
장비명 |
도립 현미경(Inverted Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
IX71 |
설치장소 |
제2공학관 033호
|
|
장비명 |
DPSS 레이저(Diode-pumped Solid-state (DPSS) Laser) |
제작사 |
LIGHTHOUSE PHOTONICS |
모델명 |
Sprout-G-12W |
설치장소 |
제2공학관 504호
|
|
장비명 |
반도체 레이저(Tunable Semiconductor Laser) |
제작사 |
Santec |
모델명 |
TSL-550 |
설치장소 |
제3공학관 308호
|
|
장비명 |
현미경 Stage 및 조절 시스템(Microscope Stage and Controller System) |
제작사 |
Applied Scientific Instrumentation (ASI) |
모델명 |
MS-2000 |
설치장소 |
제3공학관 006호
|
|
장비명 |
엑시머 레이저 시스템(Excimer Laser System) |
제작사 |
COHERENT |
모델명 |
COMPex Pro |
설치장소 |
제3공학관 206호
|
|
장비명 |
다이오드 레이저 조절기(Digital Controller for Diode Lasers) |
제작사 |
Toptica Photonics |
모델명 |
DLC pro |
설치장소 |
제3공학관 402호
|
|
장비명 |
펨토초 펄스 레이저 시스템(Femtosecond Pulse Laser System) |
제작사 |
COHERENT |
모델명 |
Chameleon |
설치장소 |
제3공학관 502A호
|
|
장비명 |
엑시머 레이저 시스템(Excimer Laser System) |
제작사 |
COHERENT |
모델명 |
COMPex Pro 199F |
설치장소 |
제3공학관 508호
|
|
장비명 |
다목적 박막 표면구조 분석 원자 현미경 장비(Muti-purpose Atomic Force Microscope (AFM) System) |
제작사 |
Bruker |
모델명 |
MultiMode 8 |
설치장소 |
제3공학관 529호
|
|
장비명 |
나노시스 SPM 조절 시스템(Nanonis Scanning Probe Microscopy (SPM) Control System) |
제작사 |
SPECS |
모델명 |
SPECS Nanonis Controller |
설치장소 |
제5공학관 008호
|
|
장비명 |
도립 현미경(Inverted Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
CKX41 |
설치장소 |
제5공학관 204호
|
|
장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
SEIKO INSTRUMENTS INC. |
모델명 |
SPI3800N Pro |
설치장소 |
제5공학관 206-1호
|
|
장비명 |
열중량-시차주사열량분석기(Thermogravimetric Analysis-Differential Scanning Calorimetry (TGA-DSC)) |
제작사 |
Mettler Toledo |
모델명 |
Mettler Toledo AG |
설치장소 |
제5공학관 206호
|
|
장비명 |
펨토초 레이저 시스템(Femtosecond Laser System) |
제작사 |
COHERENT |
모델명 |
Libra |
설치장소 |
제5공학관 406호
|
|
장비명 |
파장 가변형 나노초 레이저(Tunable Wavelength Nanosecond Lasers) |
제작사 |
EKSPLA |
모델명 |
NT352 |
설치장소 |
제5공학관 406호
|
|
장비명 |
레이저 유도붕괴 분광기(Laser-induced Breakdown Spectroscopy (LIBS)) |
제작사 |
Applied Spectra |
모델명 |
Aurora LIBS module |
설치장소 |
제5공학관 423호
|
|
장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
Bio-logic SAS |
모델명 |
M470 |
설치장소 |
지곡연구동 228호
|
|
장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JSM-6010LV |
설치장소 |
지곡연구동 232호
|
|
장비명 |
정립현미경(Upright Microscope) |
제작사 |
Leica Microsystems |
모델명 |
DM4000 M |
설치장소 |
철강대학원 144-5호
|
|
장비명 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope (TEM)) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
Ultra-55 |
설치장소 |
철강대학원 154-6호
|
|
장비명 |
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JSM-7100F |
설치장소 |
철강대학원 154-6호
|
|
장비명 |
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-2100F |
설치장소 |
철강대학원 161호
|
|
장비명 |
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JXA-8530F |
설치장소 |
철강대학원 163호
|
|
장비명 |
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-7900F |
설치장소 |
철강대학원 163호
|
|
장비명 |
TEM용 이온밀링시스템(Ion Milling System for Transmission Electron Microscope (TEM)) |
제작사 |
㈜지엘코퍼레이션 |
모델명 |
Gatan model 691 |
설치장소 |
철강대학원 284호
|
|
장비명 |
광 자기 커 현미경(Magneto-Optical Kerr-Microscope) |
제작사 |
Evico magnetics GmbH |
모델명 |
Axio Imager D1m |
설치장소 |
철강대학원 374호
|
|
장비명 |
고온시차주사열량계(High Temperature Differential Scanning Calorimeter) |
제작사 |
㈜신코엠앤티 |
모델명 |
Labsys Evo DSC |
설치장소 |
철강대학원 480호
|
|
장비명 |
레이저 회절 입자 분석기(Laser Diffraction Particle Size Analyzer) |
제작사 |
Malvern Instruments |
모델명 |
MASTERSIZER 2000 |
설치장소 |
철강대학원 546호
|
|
장비명 |
열중량-시차주사열량분석기(Thermogravimetric Analysis-Differential Scanning Calorimetry (TGA-DSC)) |
제작사 |
Mettler Toledo |
모델명 |
TGA/DSC1 |
설치장소 |
철강대학원 546호
|
|
장비명 |
용융점/접촉각 시스템(Heating Microscope) |
제작사 |
export system solutions s.r.i |
모델명 |
misura hsm |
설치장소 |
철강대학원 572호
|
|
장비명 |
도립 현미경(Inverted Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
IX73 |
설치장소 |
한국로봇융합연구원 411호
|
|
장비명 |
매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량분석기(Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization Time-of-Flight (MALDI-TOF) Mass Spectrometer) |
제작사 |
BRUKER |
모델명 |
Autoflex Speed LRF |
설치장소 |
화학관 112호
|
|
장비명 |
형광 현미경(Fluorescence Microscope) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
Axiolab |
설치장소 |
환경공학동 206-1호
|
|
장비명 |
매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량분석기(Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization Time-of-Flight (MALDI-TOF) Mass Spectrometer) |
제작사 |
Bruker |
모델명 |
Autoflex Max LRF |
설치장소 |
환경공학동 320호
|
|
장비명 |
탁상형 주사전자현미경(Mini Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
SEC |
모델명 |
SNE4500M |
설치장소 |
환경공학동 322호
|
|
장비명 |
열중량-시차주사열량분석기(Thermogravimetric Analysis-Differential Scanning Calorimetry (TGA-DSC)) |
제작사 |
TA Instruments |
모델명 |
SDT Q600 |
설치장소 |
환경공학동 322호
|
|
장비명 |
형광 금속 현미경(Fluorescence Metallurgical Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
BX60 |
설치장소 |
환경공학동 333호
|
|
장비명 |
공초점 레이저 주사 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
FV3000 |
설치장소 |
환경공학동 333호
|
|
장비명 |
도립 형광 현미경(Inverted Fluorescence Microscope) |
제작사 |
NIKON |
모델명 |
Eclipse Ti2 |
설치장소 |
환경공학동 403호
|
|
장비명 |
탁상형 주사전자현미경(Mini Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
SEC |
모델명 |
SNE4000M |
설치장소 |
환경공학동 410호
|
|
장비명 |
공초점 레이저 주사 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
LSM 5 |
설치장소 |
환경공학동 414호
|
|
장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JSM-6510 |
설치장소 |
환경공학동 414호
|
