 기본정보 |
설비번호 |
10184950 |
장비명(한글) |
 연구용 삼안 현미경
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장비명(영문) |
Reseach Trinocular Microscope |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
BX43 |
| 상세정보 |
장비사양 |
*광학 시스템: UIS2 (Universal Infinity System) 무한 보정 광학 시스템 *관찰 튜브 (Trinocular Head): 30° 경사 삼안 튜브, 동공 간 거리 조절 (48-75mm) *접안렌즈 (Eyepiece): 10X (FN 22 또는 26.5), Widefield *대물렌즈 (Objectives): UIS2 Plan Achromat/Fluorite 시리즈 (4X, 10X, 20X, 40X, 100X Oil 등 구성 가능) *코피스 (Nosepiece): 회전식 5구 또는 6구 (Reversed Quintuple/Sextuple) *조명 시스템 (Illumination): 고성능 12V 100W 할로겐 램프 또는 고연색성 화이트 LED (30W 할로겐 등가) *스테이지 (Stage): 세라믹 코팅 코액셜 스테이지 (오른손/왼손 조절), 랙리스(Rackless) 메커니즘 |
활용분야 |
고해상도 광학 성능, 모듈화된 설계, 카메라 장착이 용이한 삼안 구조를 갖추고 있어 생명과학, 의학, 재료공학 등 활용 |
| 장비운영인력 |
설치장소 |
383호
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소속 |
생명과학과 |
성명 |
송민욱 |
전화 |
054-279-8182 |
이메일 |
smu0818@postech.ac.kr |
| 동일/유사장비정보 |
장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
Park Systems |
모델명 |
XE7 |
설치장소 |
C5 228호
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장비명 |
도립 현미경(Inverted Microscope) |
제작사 |
MCL |
모델명 |
MCL-NSOM |
설치장소 |
C5 228호
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장비명 |
공초점 레이저 주사 현미경 (Confocal Laser Scanning Microscope ) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
LSM 900 with Airyscan 2 |
설치장소 |
C5, 722호(바이오헬스케어센터)
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장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
Park Systems |
모델명 |
XE7 |
설치장소 |
RIST1동 1139호
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장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
Bruker |
모델명 |
Dimension Icon with ScanAsyst |
설치장소 |
RIST1동 1152호
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장비명 |
전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
GeminiSEM 500 |
설치장소 |
RIST1동 1153호
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장비명 |
전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
AURIGA |
설치장소 |
RIST1동 1163호
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장비명 |
수차보정 주사투과전자현미경(Cs-Corrected Scanning Transmission Electron Microscope (Cs-STEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-ARM200F |
설치장소 |
RIST1동 1176호
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장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JSM-6480LV |
설치장소 |
RIST1동 1187호
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장비명 |
전계방출 현미경(Field Emission Electron Microscope) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-2100F |
설치장소 |
RIST1동 1188호
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장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
HITACHI |
모델명 |
S-3400N |
설치장소 |
RIST1동 1190호
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장비명 |
전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JSM-7600F |
설치장소 |
RIST1동 1192호
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장비명 |
전동 디지털 현미경(Opto-digital Motorizing Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
DSX100 |
설치장소 |
RIST2동 2179호
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장비명 |
공초점 레이저 주사 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
OLS3000 |
설치장소 |
RIST2동 2179호
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장비명 |
주사 투과 전자현미경(Scanning Transmission Electron Microscope (STEM)) |
제작사 |
COXEM |
모델명 |
CX-200 |
설치장소 |
RIST3동 3188호
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장비명 |
편광 현미경(Polarized Stereo Microscope) |
제작사 |
Leica Microsystems |
모델명 |
Z16 APO |
설치장소 |
가속기 저장링동 106호
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장비명 |
도립 형광 현미경(Fluorescence Inverted Microscope) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
Axio Observer A1 |
설치장소 |
가톨릭대 의생명공학연구소
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장비명 |
형광 현미경(Fluorescence Microscope) |
제작사 |
제이원 |
모델명 |
Axio Zoom.V16 |
설치장소 |
가톨릭대 의생명공학연구소
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장비명 |
주사전자현미경(S.E.M(SCANNING ELECTRON MICROSCOPE)) |
제작사 |
JEOL LTD |
모델명 |
JSM-6390LV |
설치장소 |
기계실험동 106호
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장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JSM-7401F |
설치장소 |
나노융합기술원 103호
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장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
Veeco |
모델명 |
Dimension 3100 |
설치장소 |
나노융합기술원 1층 101호
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장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-2100F(with STEM Cs corrector) |
설치장소 |
나노융합기술원 TEM 실
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장비명 |
구면수차보정 초고분해능 주사투과전자현미경(Cs Corrected High-Resolution Scanning Transmission Electron Microscope
(Cs-corrected HR-STEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-2200FS |
설치장소 |
나노융합기술원 TEM-2200FS실
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장비명 |
전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)) |
제작사 |
LEO Elektronrnmikroskopie GmbH |
모델명 |
FE-SEM |
설치장소 |
나노융합기술원 클린룸동 2층 클린룸
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장비명 |
임계치수 측정 주사전자현미경(Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM)) |
제작사 |
HITACHI |
모델명 |
S-9380 |
설치장소 |
나노융합기술원 클린룸동 2층 클린룸
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장비명 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope (TEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-1011 |
설치장소 |
생명공학연구센터 156호
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장비명 |
도립 현미경(Inverted Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
IX81 |
설치장소 |
생명공학연구센터 328호
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장비명 |
레이저 미세 해부 시스템(Laser Microdissection Microscope System) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
PALM MicroBeam |
설치장소 |
생명공학연구센터 341호
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장비명 |
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-2100 (HR) |
설치장소 |
제1공학관 105호
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장비명 |
구면수차보정 초고분해능 주사투과전자현미경(Cs Corrected High-Resolution Scanning Transmission Electron Microscope(Cs-corrected HR-STEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-2200FS (UHR) |
설치장소 |
제1공학관 109호
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장비명 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope (TEM)) |
제작사 |
HITACHI |
모델명 |
7600H |
설치장소 |
제1공학관 111호
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장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
HITACHI |
모델명 |
S-3400N |
설치장소 |
제1공학관 111호
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장비명 |
주사 프로브 현미경(Scanning Probe Microscope (SPM)) |
제작사 |
Veeco |
모델명 |
Dimension 3100 |
설치장소 |
제1공학관 208호
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장비명 |
전계방사형 주사전자 현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)) |
제작사 |
PHILIPS ELECTRON OPTICS B.V. |
모델명 |
XL30S FEG |
설치장소 |
제1공학관 306-1호
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장비명 |
도립 현미경(Inverted Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
IX71 |
설치장소 |
제2공학관 033호
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장비명 |
현미경 Stage 및 조절 시스템(Microscope Stage and Controller System) |
제작사 |
Applied Scientific Instrumentation (ASI) |
모델명 |
MS-2000 |
설치장소 |
제3공학관 006호
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장비명 |
다목적 박막 표면구조 분석 원자 현미경 장비(Muti-purpose Atomic Force Microscope (AFM) System) |
제작사 |
Bruker |
모델명 |
MultiMode 8 |
설치장소 |
제3공학관 529호
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장비명 |
도립 현미경(Inverted Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
CKX41 |
설치장소 |
제5공학관 204호
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장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
SEIKO INSTRUMENTS INC. |
모델명 |
SPI3800N Pro |
설치장소 |
제5공학관 206-1호
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장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
Bio-logic SAS |
모델명 |
M470 |
설치장소 |
지곡연구동 228호
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장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JSM-6010LV |
설치장소 |
지곡연구동 232호
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장비명 |
정립현미경(Upright Microscope) |
제작사 |
Leica Microsystems |
모델명 |
DM4000 M |
설치장소 |
철강대학원 144-5호
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장비명 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope (TEM)) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
Ultra-55 |
설치장소 |
철강대학원 154-6호
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장비명 |
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JSM-7100F |
설치장소 |
철강대학원 154-6호
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장비명 |
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-2100F |
설치장소 |
철강대학원 161호
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장비명 |
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JXA-8530F |
설치장소 |
철강대학원 163호
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장비명 |
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-7900F |
설치장소 |
철강대학원 163호
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장비명 |
TEM용 이온밀링시스템(Ion Milling System for Transmission Electron Microscope (TEM)) |
제작사 |
㈜지엘코퍼레이션 |
모델명 |
Gatan model 691 |
설치장소 |
철강대학원 284호
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장비명 |
광 자기 커 현미경(Magneto-Optical Kerr-Microscope) |
제작사 |
Evico magnetics GmbH |
모델명 |
Axio Imager D1m |
설치장소 |
철강대학원 374호
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장비명 |
공초점 레이저 주사 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope) |
제작사 |
Lasertec Corporation |
모델명 |
VL2000DX |
설치장소 |
철강대학원 546호
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장비명 |
용융점/접촉각 시스템(Heating Microscope) |
제작사 |
export system solutions s.r.i |
모델명 |
misura hsm |
설치장소 |
철강대학원 572호
|
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장비명 |
도립 현미경(Inverted Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
IX73 |
설치장소 |
한국로봇융합연구원 411호
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장비명 |
형광 현미경(Fluorescence Microscope) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
Axiolab |
설치장소 |
환경공학동 206-1호
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장비명 |
탁상형 주사전자현미경(Mini Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
SEC |
모델명 |
SNE4500M |
설치장소 |
환경공학동 322호
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장비명 |
형광 금속 현미경(Fluorescence Metallurgical Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
BX60 |
설치장소 |
환경공학동 333호
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장비명 |
공초점 레이저 주사 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
FV3000 |
설치장소 |
환경공학동 333호
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장비명 |
도립 형광 현미경(Inverted Fluorescence Microscope) |
제작사 |
NIKON |
모델명 |
Eclipse Ti2 |
설치장소 |
환경공학동 403호
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장비명 |
탁상형 주사전자현미경(Mini Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
SEC |
모델명 |
SNE4000M |
설치장소 |
환경공학동 410호
|
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장비명 |
공초점 레이저 주사 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
LSM 5 |
설치장소 |
환경공학동 414호
|
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장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JSM-6510 |
설치장소 |
환경공학동 414호
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