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열중량-시차주사열량분석기(Thermogravimetric Analysis-Differential Scanning Calorimetry (TGA-DSC))

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장비공지
Equip. Notice 장비공지
Equipment Notice

기본정보
설비번호	10102233
장비명(한글)	열중량-시차주사열량분석기
장비명(영문)	Thermogravimetric Analysis-Differential Scanning Calorimetry (TGA-DSC)
제작사	Mettler Toledo
모델명	TGA/DSC1
상세정보
장비사양	• High resolution – ultra-microgram resolution over the whole measurement range • Efficient automation – most reliable sample robot for high sample throughput • Wide measurement range – measure small and large sample masses and volumes • Broad temperature scale – analyze samples from ambient to 1600 °C METTLER TOLEDO ultra-micro balance – rely on the balance technology leader • DSC heat flow measurement – for simultaneous detection of thermal events • Gastight cell – ensures a properly defined measurement environment • Hyphenated techniques – evolved gas analysis using MS and FTIR • Modular concept – tailor-made solutions for current and future needs
활용분야	열중량분석
장비운영인력
설치장소	철강대학원 546호
소속	철강대학원
성명	조성규
전화	054-279-9352
이메일	seongkyu0416@postech.ac.kr
동일/유사장비정보
장비명	공초점 레이저 주사 현미경 (Confocal Laser Scanning Microscope )
제작사	Carl Zeiss
모델명	LSM 900 with Airyscan 2
설치장소	C5, 722호(바이오헬스케어센터)

장비명	전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM))
제작사	Carl Zeiss
모델명	GeminiSEM 500
설치장소	RIST1동 1153호

장비명	전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM))
제작사	Carl Zeiss
모델명	AURIGA
설치장소	RIST1동 1163호

장비명	주사형 오제 전자현미경(Scanning Auger Electron Spectroscopy (AES) Nanoprobe)
제작사	ULVAC-PHI
모델명	PHI 700
설치장소	RIST1동 1163호

장비명	수차보정 주사투과전자현미경(Cs-Corrected Scanning Transmission Electron Microscope (Cs-STEM))
제작사	JEOL
모델명	JEM-ARM200F
설치장소	RIST1동 1176호

장비명	주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사	JEOL
모델명	JSM-6480LV
설치장소	RIST1동 1187호

장비명	시차열분석/시차주사열량분석기(Differential Thermal Analysis (DTA)/Differential Scanning Calorimeter (DSC))
제작사	SETARAM Instrumentation
모델명	Labsys DTA/DSC
설치장소	RIST1동 1188호

장비명	주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사	HITACHI
모델명	S-3400N
설치장소	RIST1동 1190호

장비명	전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM))
제작사	JEOL
모델명	JSM-7600F
설치장소	RIST1동 1192호

장비명	공초점 레이저 주사 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope)
제작사	OLYMPUS
모델명	OLS3000
설치장소	RIST2동 2179호

장비명	주사 투과 전자현미경(Scanning Transmission Electron Microscope (STEM))
제작사	COXEM
모델명	CX-200
설치장소	RIST3동 3188호

장비명	열중량-시차주사열량분석기(Thermogravimetric Analysis-Differential Scanning Calorimetry (TGA-DSC))
제작사	TA Instruments
모델명	SDT Q600
설치장소	RIST3동 3278호

장비명	시차 주사 열량측정기(Differential Scanning Calorimeter (DSC))
제작사	PerkinElmer
모델명	DSC 4000
설치장소	RIST3동 3312호

장비명	주사전자현미경(S.E.M(SCANNING ELECTRON MICROSCOPE))
제작사	JEOL LTD
모델명	JSM-6390LV
설치장소	기계실험동 106호

장비명	주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사	JEOL
모델명	JSM-7401F
설치장소	나노융합기술원 103호

장비명	초고진공저온 주사터널링현미경(Ultra High Vacuum Low Temperature Scanning Tunneling Microscopy (STM))
제작사	Unisoku
모델명	USM 1200
설치장소	나노융합기술원 1층 101호

장비명	주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사	JEOL
모델명	JEM-2100F(with STEM Cs corrector)
설치장소	나노융합기술원 TEM 실

장비명	구면수차보정 초고분해능 주사투과전자현미경(Cs Corrected High-Resolution Scanning Transmission Electron Microscope (Cs-corrected HR-STEM))
제작사	JEOL
모델명	JEM-2200FS
설치장소	나노융합기술원 TEM-2200FS실

장비명	전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM))
제작사	LEO Elektronrnmikroskopie GmbH
모델명	FE-SEM
설치장소	나노융합기술원 클린룸동 2층 클린룸

장비명	임계치수 측정 주사전자현미경(Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM))
제작사	HITACHI
모델명	S-9380
설치장소	나노융합기술원 클린룸동 2층 클린룸

장비명	구면수차보정 초고분해능 주사투과전자현미경(Cs Corrected High-Resolution Scanning Transmission Electron Microscope(Cs-corrected HR-STEM))
제작사	JEOL
모델명	JEM-2200FS (UHR)
설치장소	제1공학관 109호

장비명	주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사	HITACHI
모델명	S-3400N
설치장소	제1공학관 111호

장비명	시차 주사 열량측정기(Differential Scanning Calorimeter (DSC))
제작사	SETARAM Instrumentation
모델명	Labsys Evo
설치장소	제1공학관 112호

장비명	주사 프로브 현미경(Scanning Probe Microscope (SPM))
제작사	Veeco
모델명	Dimension 3100
설치장소	제1공학관 208호

장비명	전계방사형 주사전자 현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM))
제작사	PHILIPS ELECTRON OPTICS B.V.
모델명	XL30S FEG
설치장소	제1공학관 306-1호

장비명	나노시스 SPM 조절 시스템(Nanonis Scanning Probe Microscopy (SPM) Control System)
제작사	SPECS
모델명	SPECS Nanonis Controller
설치장소	제5공학관 008호

장비명	열중량-시차주사열량분석기(Thermogravimetric Analysis-Differential Scanning Calorimetry (TGA-DSC))
제작사	Mettler Toledo
모델명	Mettler Toledo AG
설치장소	제5공학관 206호

장비명	주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사	Bio-logic SAS
모델명	M470
설치장소	지곡연구동 228호

장비명	주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사	JEOL
모델명	JSM-6010LV
설치장소	지곡연구동 232호

장비명	고온시차주사열량계(High Temperature Differential Scanning Calorimeter)
제작사	㈜신코엠앤티
모델명	Labsys Evo DSC
설치장소	철강대학원 480호

장비명	열중량분석기(Thermogravimetric Sorption Analyzer (TGA))
제작사	RUBOTHERM
모델명	특수제작
설치장소	철강대학원 546호

장비명	공초점 레이저 주사 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope)
제작사	Lasertec Corporation
모델명	VL2000DX
설치장소	철강대학원 546호

장비명	열중량분석기(Thermogravimetric Analyzer)
제작사	RUBOTHERM
모델명	특수제작
설치장소	철강대학원 546호

장비명	열중량분석기(Thermogravimetric Sorption Analyzer (TGA))
제작사	RUBOTHERM
모델명	High Pressure TGA
설치장소	철강대학원 546호

장비명	등온미세열량계(IMC (Isothermal Microcalorimetry))
제작사	TA Instruments Korea Unit of waters korea, Ltd
모델명	TAM IV XL
설치장소	친환경소재대학원 184, 186호

장비명	저전압 고분해능 전계방출형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope)
제작사	CARL ZEISS MICROSCOP
모델명	Gemini 360
설치장소	친환경소재대학원 184, 186호

장비명	탁상형 주사전자현미경(Mini Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사	SEC
모델명	SNE4500M
설치장소	환경공학동 322호

장비명	열중량-시차주사열량분석기(Thermogravimetric Analysis-Differential Scanning Calorimetry (TGA-DSC))
제작사	TA Instruments
모델명	SDT Q600
설치장소	환경공학동 322호

장비명	공초점 레이저 주사 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope)
제작사	OLYMPUS
모델명	FV3000
설치장소	환경공학동 333호

장비명	탁상형 주사전자현미경(Mini Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사	SEC
모델명	SNE4000M
설치장소	환경공학동 410호

장비명	공초점 레이저 주사 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope)
제작사	Carl Zeiss
모델명	LSM 5
설치장소	환경공학동 414호

장비명	주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사	JEOL
모델명	JSM-6510
설치장소	환경공학동 414호

사용정보
장비오픈여부	X
자율사용여부	X
사용료	-
자산정보
취득금액	\ 80,107,637
취득일	2011-12-15
참조사항
첨부파일
URL	https://www.mt.com/
키워드
TGA, 열질량분석