 기본정보 |
설비번호 |
10139310 |
장비명(한글) |
 도립 형광 현미경
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장비명(영문) |
Inverted Fluorescence Microscope |
제작사 |
NIKON |
모델명 |
Eclipse Ti2 |
| 상세정보 |
장비사양 |
The Eclipse Ti2 delivers an unparalleled 25mm field of view (FOV) that revolutionizes the way you see. With this incredible FOV, the Ti2 maximizes the sensor area of large-format CMOS cameras without making compromises, and significantly improves data throughput. The Ti2's exceptionally stable, drift-free platform is designed to meet the demands of super-resolution imaging while its unique hardware-triggering capabilities enhance even the most challenging, high-speed imaging applications. Furthermore, the Ti2's unique, intelligent functions guide users through imaging workflows by gathering data from internal sensors, eliminating the possibility of user errors. In addition, the status of each sensor is automatically recorded during acquisition, providing quality control for imaging experiments and enhancing data reproducibility. |
활용분야 |
시료관찰 |
| 장비운영인력 |
설치장소 |
환경공학동 403호
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소속 |
화학공학과 |
성명 |
유정 |
전화 |
054-279-8730 |
이메일 |
yjung2208@postech.ac.kr |
| 동일/유사장비정보 |
장비명 |
연구용 삼안 현미경(Reseach Trinocular Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
BX43 |
설치장소 |
383호
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장비명 |
투포톤 현미경(3D 홀로그래픽 다광자 현미경)(Ultima 2-Photon Microscope) |
제작사 |
bruker |
모델명 |
Ultims 2P plus |
설치장소 |
C5
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장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
Park Systems |
모델명 |
XE7 |
설치장소 |
C5 228호
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장비명 |
도립 현미경(Inverted Microscope) |
제작사 |
MCL |
모델명 |
MCL-NSOM |
설치장소 |
C5 228호
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장비명 |
광시트 형광현미경(평면레이저 현미경) (Light sheet fluorescence microscopy ) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
Light Sheet 7 |
설치장소 |
C5, 722호(바이오헬스케어센터)
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장비명 |
공초점 레이저 주사 현미경 (Confocal Laser Scanning Microscope ) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
LSM 900 with Airyscan 2 |
설치장소 |
C5, 722호(바이오헬스케어센터)
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장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
Park Systems |
모델명 |
XE7 |
설치장소 |
RIST1동 1139호
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장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
Bruker |
모델명 |
Dimension Icon with ScanAsyst |
설치장소 |
RIST1동 1152호
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장비명 |
전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
GeminiSEM 500 |
설치장소 |
RIST1동 1153호
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장비명 |
전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
AURIGA |
설치장소 |
RIST1동 1163호
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장비명 |
수차보정 주사투과전자현미경(Cs-Corrected Scanning Transmission Electron Microscope (Cs-STEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-ARM200F |
설치장소 |
RIST1동 1176호
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장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JSM-6480LV |
설치장소 |
RIST1동 1187호
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장비명 |
전계방출 현미경(Field Emission Electron Microscope) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-2100F |
설치장소 |
RIST1동 1188호
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장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
HITACHI |
모델명 |
S-3400N |
설치장소 |
RIST1동 1190호
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장비명 |
전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JSM-7600F |
설치장소 |
RIST1동 1192호
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장비명 |
순차 분석형 형광 X-선 분석장치(상면조사형)(Tube-above Sequential Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) Spectrometer) |
제작사 |
Rigaku |
모델명 |
ZSX Primus II |
설치장소 |
RIST1동 1310호
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장비명 |
순차 분석형 형광 X-선 분석장치(Sequential Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) Spectrometer) |
제작사 |
Rigaku |
모델명 |
ZSX Primus |
설치장소 |
RIST1동 1310호
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장비명 |
전동 디지털 현미경(Opto-digital Motorizing Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
DSX100 |
설치장소 |
RIST2동 2179호
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장비명 |
공초점 레이저 주사 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
OLS3000 |
설치장소 |
RIST2동 2179호
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장비명 |
주사 투과 전자현미경(Scanning Transmission Electron Microscope (STEM)) |
제작사 |
COXEM |
모델명 |
CX-200 |
설치장소 |
RIST3동 3188호
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장비명 |
편광 현미경(Polarized Stereo Microscope) |
제작사 |
Leica Microsystems |
모델명 |
Z16 APO |
설치장소 |
가속기 저장링동 106호
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장비명 |
도립 형광 현미경(Fluorescence Inverted Microscope) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
Axio Observer A1 |
설치장소 |
가톨릭대 의생명공학연구소
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장비명 |
형광 현미경(Fluorescence Microscope) |
제작사 |
제이원 |
모델명 |
Axio Zoom.V16 |
설치장소 |
가톨릭대 의생명공학연구소
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장비명 |
주사전자현미경(S.E.M(SCANNING ELECTRON MICROSCOPE)) |
제작사 |
JEOL LTD |
모델명 |
JSM-6390LV |
설치장소 |
기계실험동 106호
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장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JSM-7401F |
설치장소 |
나노융합기술원 103호
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장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
Veeco |
모델명 |
Dimension 3100 |
설치장소 |
나노융합기술원 1층 101호
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장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-2100F(with STEM Cs corrector) |
설치장소 |
나노융합기술원 TEM 실
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장비명 |
구면수차보정 초고분해능 주사투과전자현미경(Cs Corrected High-Resolution Scanning Transmission Electron Microscope
(Cs-corrected HR-STEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-2200FS |
설치장소 |
나노융합기술원 TEM-2200FS실
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장비명 |
전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)) |
제작사 |
LEO Elektronrnmikroskopie GmbH |
모델명 |
FE-SEM |
설치장소 |
나노융합기술원 클린룸동 2층 클린룸
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장비명 |
임계치수 측정 주사전자현미경(Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM)) |
제작사 |
HITACHI |
모델명 |
S-9380 |
설치장소 |
나노융합기술원 클린룸동 2층 클린룸
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장비명 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope (TEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-1011 |
설치장소 |
생명공학연구센터 156호
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장비명 |
도립 현미경(Inverted Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
IX81 |
설치장소 |
생명공학연구센터 328호
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장비명 |
레이저 미세 해부 시스템(Laser Microdissection Microscope System) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
PALM MicroBeam |
설치장소 |
생명공학연구센터 341호
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장비명 |
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-2100 (HR) |
설치장소 |
제1공학관 105호
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장비명 |
구면수차보정 초고분해능 주사투과전자현미경(Cs Corrected High-Resolution Scanning Transmission Electron Microscope(Cs-corrected HR-STEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-2200FS (UHR) |
설치장소 |
제1공학관 109호
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장비명 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope (TEM)) |
제작사 |
HITACHI |
모델명 |
7600H |
설치장소 |
제1공학관 111호
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장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
HITACHI |
모델명 |
S-3400N |
설치장소 |
제1공학관 111호
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장비명 |
주사 프로브 현미경(Scanning Probe Microscope (SPM)) |
제작사 |
Veeco |
모델명 |
Dimension 3100 |
설치장소 |
제1공학관 208호
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장비명 |
전계방사형 주사전자 현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)) |
제작사 |
PHILIPS ELECTRON OPTICS B.V. |
모델명 |
XL30S FEG |
설치장소 |
제1공학관 306-1호
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장비명 |
도립 현미경(Inverted Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
IX71 |
설치장소 |
제2공학관 033호
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장비명 |
현미경 Stage 및 조절 시스템(Microscope Stage and Controller System) |
제작사 |
Applied Scientific Instrumentation (ASI) |
모델명 |
MS-2000 |
설치장소 |
제3공학관 006호
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장비명 |
다목적 박막 표면구조 분석 원자 현미경 장비(Muti-purpose Atomic Force Microscope (AFM) System) |
제작사 |
Bruker |
모델명 |
MultiMode 8 |
설치장소 |
제3공학관 529호
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장비명 |
도립 현미경(Inverted Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
CKX41 |
설치장소 |
제5공학관 204호
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장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
SEIKO INSTRUMENTS INC. |
모델명 |
SPI3800N Pro |
설치장소 |
제5공학관 206-1호
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장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
Bio-logic SAS |
모델명 |
M470 |
설치장소 |
지곡연구동 228호
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장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JSM-6010LV |
설치장소 |
지곡연구동 232호
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장비명 |
정립현미경(Upright Microscope) |
제작사 |
Leica Microsystems |
모델명 |
DM4000 M |
설치장소 |
철강대학원 144-5호
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장비명 |
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope (TEM)) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
Ultra-55 |
설치장소 |
철강대학원 154-6호
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장비명 |
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JSM-7100F |
설치장소 |
철강대학원 154-6호
|
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장비명 |
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-2100F |
설치장소 |
철강대학원 161호
|
|
장비명 |
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JXA-8530F |
설치장소 |
철강대학원 163호
|
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장비명 |
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JEM-7900F |
설치장소 |
철강대학원 163호
|
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장비명 |
TEM용 이온밀링시스템(Ion Milling System for Transmission Electron Microscope (TEM)) |
제작사 |
㈜지엘코퍼레이션 |
모델명 |
Gatan model 691 |
설치장소 |
철강대학원 284호
|
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장비명 |
광 자기 커 현미경(Magneto-Optical Kerr-Microscope) |
제작사 |
Evico magnetics GmbH |
모델명 |
Axio Imager D1m |
설치장소 |
철강대학원 374호
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장비명 |
공초점 레이저 주사 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope) |
제작사 |
Lasertec Corporation |
모델명 |
VL2000DX |
설치장소 |
철강대학원 546호
|
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장비명 |
용융점/접촉각 시스템(Heating Microscope) |
제작사 |
export system solutions s.r.i |
모델명 |
misura hsm |
설치장소 |
철강대학원 572호
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장비명 |
저전압 고분해능 전계방출형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope) |
제작사 |
CARL ZEISS MICROSCOP |
모델명 |
Gemini 360 |
설치장소 |
친환경소재대학원 184, 186호
|
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장비명 |
도립 현미경(Inverted Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
IX73 |
설치장소 |
한국로봇융합연구원 411호
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장비명 |
형광 현미경(Fluorescence Microscope) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
Axiolab |
설치장소 |
환경공학동 206-1호
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장비명 |
탁상형 주사전자현미경(Mini Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
SEC |
모델명 |
SNE4500M |
설치장소 |
환경공학동 322호
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장비명 |
형광 금속 현미경(Fluorescence Metallurgical Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
BX60 |
설치장소 |
환경공학동 333호
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장비명 |
공초점 레이저 주사 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope) |
제작사 |
OLYMPUS |
모델명 |
FV3000 |
설치장소 |
환경공학동 333호
|
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장비명 |
탁상형 주사전자현미경(Mini Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
SEC |
모델명 |
SNE4000M |
설치장소 |
환경공학동 410호
|
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장비명 |
공초점 레이저 주사 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope) |
제작사 |
Carl Zeiss |
모델명 |
LSM 5 |
설치장소 |
환경공학동 414호
|
|
장비명 |
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM)) |
제작사 |
JEOL |
모델명 |
JSM-6510 |
설치장소 |
환경공학동 414호
|
