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Equipment Information
투포톤 현미경(3D 홀로그래픽 다광자 현미경)(Ultima 2-Photon Microscope)
장비정보
Equip. Info.
예약 및 의뢰
Reservation
■ 장비공지 : 장비 이용 안내문
기본정보
설비번호
10200181
장비명(한글)
투포톤 현미경(3D 홀로그래픽 다광자 현미경)
장비명(영문)
Ultima 2-Photon Microscope
제작사
bruker
모델명
Ultims 2P plus
상세정보
장비사양
○이미징 시스템
Resonant Scanner 기반 고속 레이저 스캐닝
최대 8 kHz 공진 스캐닝
최대 30 fps 실시간 고속 이미징
최대 2600 × 2600 pixel 해상도
최대 8채널 동시 획득

○시야(Field of View)
표준 시야: FN 22.7 mm
오버스캔 시야: FN 28 mm
Nikon 16X/0.8 NA 대물렌즈 사용 시
표준: 1.11 × 1.11 mm
오버스캔: 1.4 × 1.4 mm

○3D 광자극 시스템
NeuraLight 3D Ultra SLM Module
3차원 다중 뉴런 동시 광자극 가능
최대 600 Hz 위상 전환 속도
15.4 × 15.4 mm 시야각

○Z-축 포커싱
ETL Remote Focusing
대물렌즈 이동 없이 전기적 초고속 포커싱
최대 450 μm Z-range

○검출 시스템
Hamamatsu GaAsP PMT 2채널
High-Speed Shutter 적용

○광원
이미징용 레이저
Coherent Axon Laser (920 nm)
광자극용 레이저
Coherent Laser (1064 nm)
독립 이중 광학 경로 구성

○대물렌즈
Nikon CFI75 16X/0.80 Water Objective
Working Distance: 3.0 mm

○소프트웨어
4D(X,Y,Z,T) 이미징
ROI 및 자유곡선 스캐닝
Functional Mapping
실시간 광자극 패턴 설계
전기생리학(Electrophysiology) 연동

○설치 환경
방진 광학 테이블 기반 고정형 플랫폼
Motorized X-Y Stage
Motorized Z-axis (최소 분해능 100 nm)
활용분야
신경과학 및 바이오메디컬 연구를 위한 첨단 다광자 이미징 플랫폼으로, 생체조직의 고해상도 3차원 이미징, 칼슘 이미징 기반 신경활동 분석, 광유전학(Optogenetics), 다중 뉴런 광자극(All-Optical Interrogation), 신경회로 분석, 뇌질환 연구, 전기생리학 연계 연구 등에 활용 가능함
장비운영인력
설치장소
C5
소속
융합대학원
성명
김선희
전화
054-279-8418
이메일
sunnykim@postech.ac.kr
동일/유사장비정보
장비명
연구용 삼안 현미경(Reseach Trinocular Microscope)
제작사
OLYMPUS
모델명
BX43
설치장소
383호
장비명
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM))
제작사
Park Systems
모델명
XE7
설치장소
C5 228호
장비명
도립 현미경(Inverted Microscope)
제작사
MCL
모델명
MCL-NSOM
설치장소
C5 228호
장비명
공초점 레이저 주사 현미경 (Confocal Laser Scanning Microscope )
제작사
Carl Zeiss
모델명
LSM 900 with Airyscan 2
설치장소
C5, 722호(바이오헬스케어센터)
장비명
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM))
제작사
Park Systems
모델명
XE7
설치장소
RIST1동 1139호
장비명
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM))
제작사
Bruker
모델명
Dimension Icon with ScanAsyst
설치장소
RIST1동 1152호
장비명
전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM))
제작사
Carl Zeiss
모델명
GeminiSEM 500
설치장소
RIST1동 1153호
장비명
전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM))
제작사
Carl Zeiss
모델명
AURIGA
설치장소
RIST1동 1163호
장비명
수차보정 주사투과전자현미경(Cs-Corrected Scanning Transmission Electron Microscope (Cs-STEM))
제작사
JEOL
모델명
JEM-ARM200F
설치장소
RIST1동 1176호
장비명
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사
JEOL
모델명
JSM-6480LV
설치장소
RIST1동 1187호
장비명
전계방출 현미경(Field Emission Electron Microscope)
제작사
JEOL
모델명
JEM-2100F
설치장소
RIST1동 1188호
장비명
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사
HITACHI
모델명
S-3400N
설치장소
RIST1동 1190호
장비명
전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM))
제작사
JEOL
모델명
JSM-7600F
설치장소
RIST1동 1192호
장비명
전동 디지털 현미경(Opto-digital Motorizing Microscope)
제작사
OLYMPUS
모델명
DSX100
설치장소
RIST2동 2179호
장비명
공초점 레이저 주사 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope)
제작사
OLYMPUS
모델명
OLS3000
설치장소
RIST2동 2179호
장비명
주사 투과 전자현미경(Scanning Transmission Electron Microscope (STEM))
제작사
COXEM
모델명
CX-200
설치장소
RIST3동 3188호
장비명
편광 현미경(Polarized Stereo Microscope)
제작사
Leica Microsystems
모델명
Z16 APO
설치장소
가속기 저장링동 106호
장비명
도립 형광 현미경(Fluorescence Inverted Microscope)
제작사
Carl Zeiss
모델명
Axio Observer A1
설치장소
가톨릭대 의생명공학연구소
장비명
형광 현미경(Fluorescence Microscope)
제작사
제이원
모델명
Axio Zoom.V16
설치장소
가톨릭대 의생명공학연구소
장비명
주사전자현미경(S.E.M(SCANNING ELECTRON MICROSCOPE))
제작사
JEOL LTD
모델명
JSM-6390LV
설치장소
기계실험동 106호
장비명
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사
JEOL
모델명
JSM-7401F
설치장소
나노융합기술원 103호
장비명
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM))
제작사
Veeco
모델명
Dimension 3100
설치장소
나노융합기술원 1층 101호
장비명
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사
JEOL
모델명
JEM-2100F(with STEM Cs corrector)
설치장소
나노융합기술원 TEM 실
장비명
구면수차보정 초고분해능 주사투과전자현미경(Cs Corrected High-Resolution Scanning Transmission Electron Microscope (Cs-corrected HR-STEM))
제작사
JEOL
모델명
JEM-2200FS
설치장소
나노융합기술원 TEM-2200FS실
장비명
전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM))
제작사
LEO Elektronrnmikroskopie GmbH
모델명
FE-SEM
설치장소
나노융합기술원 클린룸동 2층 클린룸
장비명
임계치수 측정 주사전자현미경(Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM))
제작사
HITACHI
모델명
S-9380
설치장소
나노융합기술원 클린룸동 2층 클린룸
장비명
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope (TEM))
제작사
JEOL
모델명
JEM-1011
설치장소
생명공학연구센터 156호
장비명
도립 현미경(Inverted Microscope)
제작사
OLYMPUS
모델명
IX81
설치장소
생명공학연구센터 328호
장비명
레이저 미세 해부 시스템(Laser Microdissection Microscope System)
제작사
Carl Zeiss
모델명
PALM MicroBeam
설치장소
생명공학연구센터 341호
장비명
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM))
제작사
JEOL
모델명
JEM-2100 (HR)
설치장소
제1공학관 105호
장비명
구면수차보정 초고분해능 주사투과전자현미경(Cs Corrected High-Resolution Scanning Transmission Electron Microscope(Cs-corrected HR-STEM))
제작사
JEOL
모델명
JEM-2200FS (UHR)
설치장소
제1공학관 109호
장비명
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope (TEM))
제작사
HITACHI
모델명
7600H
설치장소
제1공학관 111호
장비명
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사
HITACHI
모델명
S-3400N
설치장소
제1공학관 111호
장비명
주사 프로브 현미경(Scanning Probe Microscope (SPM))
제작사
Veeco
모델명
Dimension 3100
설치장소
제1공학관 208호
장비명
전계방사형 주사전자 현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM))
제작사
PHILIPS ELECTRON OPTICS B.V.
모델명
XL30S FEG
설치장소
제1공학관 306-1호
장비명
도립 현미경(Inverted Microscope)
제작사
OLYMPUS
모델명
IX71
설치장소
제2공학관 033호
장비명
현미경 Stage 및 조절 시스템(Microscope Stage and Controller System)
제작사
Applied Scientific Instrumentation (ASI)
모델명
MS-2000
설치장소
제3공학관 006호
장비명
다목적 박막 표면구조 분석 원자 현미경 장비(Muti-purpose Atomic Force Microscope (AFM) System)
제작사
Bruker
모델명
MultiMode 8
설치장소
제3공학관 529호
장비명
도립 현미경(Inverted Microscope)
제작사
OLYMPUS
모델명
CKX41
설치장소
제5공학관 204호
장비명
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM))
제작사
SEIKO INSTRUMENTS INC.
모델명
SPI3800N Pro
설치장소
제5공학관 206-1호
장비명
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사
Bio-logic SAS
모델명
M470
설치장소
지곡연구동 228호
장비명
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사
JEOL
모델명
JSM-6010LV
설치장소
지곡연구동 232호
장비명
정립현미경(Upright Microscope)
제작사
Leica Microsystems
모델명
DM4000 M
설치장소
철강대학원 144-5호
장비명
투과전자현미경(Transmission Electron Microscope (TEM))
제작사
Carl Zeiss
모델명
Ultra-55
설치장소
철강대학원 154-6호
장비명
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM))
제작사
JEOL
모델명
JSM-7100F
설치장소
철강대학원 154-6호
장비명
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM))
제작사
JEOL
모델명
JEM-2100F
설치장소
철강대학원 161호
장비명
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM))
제작사
JEOL
모델명
JXA-8530F
설치장소
철강대학원 163호
장비명
전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM))
제작사
JEOL
모델명
JEM-7900F
설치장소
철강대학원 163호
장비명
TEM용 이온밀링시스템(Ion Milling System for Transmission Electron Microscope (TEM))
제작사
㈜지엘코퍼레이션
모델명
Gatan model 691
설치장소
철강대학원 284호
장비명
광 자기 커 현미경(Magneto-Optical Kerr-Microscope)
제작사
Evico magnetics GmbH
모델명
Axio Imager D1m
설치장소
철강대학원 374호
장비명
공초점 레이저 주사 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope)
제작사
Lasertec Corporation
모델명
VL2000DX
설치장소
철강대학원 546호
장비명
용융점/접촉각 시스템(Heating Microscope)
제작사
export system solutions s.r.i
모델명
misura hsm
설치장소
철강대학원 572호
장비명
저전압 고분해능 전계방출형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope)
제작사
CARL ZEISS MICROSCOP
모델명
Gemini 360
설치장소
친환경소재대학원 184, 186호
장비명
도립 현미경(Inverted Microscope)
제작사
OLYMPUS
모델명
IX73
설치장소
한국로봇융합연구원 411호
장비명
형광 현미경(Fluorescence Microscope)
제작사
Carl Zeiss
모델명
Axiolab
설치장소
환경공학동 206-1호
장비명
탁상형 주사전자현미경(Mini Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사
SEC
모델명
SNE4500M
설치장소
환경공학동 322호
장비명
형광 금속 현미경(Fluorescence Metallurgical Microscope)
제작사
OLYMPUS
모델명
BX60
설치장소
환경공학동 333호
장비명
공초점 레이저 주사 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope)
제작사
OLYMPUS
모델명
FV3000
설치장소
환경공학동 333호
장비명
도립 형광 현미경(Inverted Fluorescence Microscope)
제작사
NIKON
모델명
Eclipse Ti2
설치장소
환경공학동 403호
장비명
탁상형 주사전자현미경(Mini Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사
SEC
모델명
SNE4000M
설치장소
환경공학동 410호
장비명
공초점 레이저 주사 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope)
제작사
Carl Zeiss
모델명
LSM 5
설치장소
환경공학동 414호
장비명
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사
JEOL
모델명
JSM-6510
설치장소
환경공학동 414호
사용정보
장비오픈여부
○
자율사용여부
X
사용료
교내 100,000원/1시간(기본이미징) 130,000원/1시간(+광자극포함) 교외 150,000원/1시간(기본이미징) 200,000원/1시간(+광자극포함)
자산정보
취득금액
\ 1,136,433,289
취득일
0000-00-00
참조사항
첨부파일
URL
키워드
Two-photon microscopy, Multiphoton microscopy, In vivo imaging, brain imaging, calcium imaging, photostimulation, Neural Imaging, SLM, 의공학센터, 글로컬
XS
SM
MD
LG
77 Cheongam-ro, Nam-gu, Pohang, Gyeongbuk, Republic of Korea (37673)
+82-54-279-3653
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