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국소 레이져 전계형 원자단층현미경(Local Electrode Atom Probe)

장비정보
Equipment InformationEquip. Info.

장비공지
Equip. Notice 장비공지
Equipment Notice

기본정보
설비번호	10121775
장비명(한글)	국소 레이져 전계형 원자단층현미경
장비명(영문)	Local Electrode Atom Probe
제작사	CAMECA Instruments
모델명	LEAP 4000X HR
상세정보
장비사양	Mass resolution (FWHM)1: 1:1000 Mass resolution (FWTM)1: 1:475 Mass resolution (FW1%M)1: 1:275 Maximum voltage mode pulse rate (kHz): 200 Maximum laser mode pulse rate (kHz): 250 Maximum data collection rate (ions/minute): > 2 M Base pressure2 (Torr): < 1E-10 Minimum specimen temperature (K): 25 1 Standard Al specimen 2 50K specimen temperature
활용분야	나노 사이즈에서 샘플의 3D 이미지 및 화학적 구성 확인, 미세 영역 내 원소의 종류별 위치 확인
장비운영인력
설치장소	나노융합기술원 105-3호
소속	나노융합기술원
성명	김동효
전화	054-279-0236
이메일	envir@postech.ac.kr
동일/유사장비정보
장비명	[글로컬] 파워랩씨 디지털 데이터 수집 시스템([Glocal] PowerLab C Digital Data Collection System)
제작사	(주)라이프텍
모델명	PowerLab C
설치장소	206호

장비명	(GLOCAL)공간 전사체 탐침 이동 장치(in situ probe transfer for Spantial transcriptome analysis )
제작사	10xGENOMICS
모델명	Visium CytAssist
설치장소	BOIC [3311호]

장비명	원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM))
제작사	Park Systems
모델명	XE7
설치장소	C5 228호

장비명	진공프로브스테이션(Vacuum Chamber Probe Station)
제작사	MS TECH
모델명	M6VC
설치장소	C5 330호

장비명	웨이퍼분석 프로브 스테이션(Wafer Prober)
제작사	Cascade Microtech
모델명	Summit 11000
설치장소	C5 330호

장비명	프로브 스테이션(Probe Station)
제작사	MS TECH
모델명	MST8000
설치장소	C5 332호

장비명	프로브 스테이션(Probe Station)
제작사	UNITEK CORPORATION
모델명	-
설치장소	LG연구동 212호

장비명	원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM))
제작사	Park Systems
모델명	XE7
설치장소	RIST1동 1139호

장비명	원자층 증착기(Atomic Layer Deposition (ALD))
제작사	CN1
모델명	Atomic-Basic
설치장소	RIST1동 1139호

장비명	원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM))
제작사	Bruker
모델명	Dimension Icon with ScanAsyst
설치장소	RIST1동 1152호

장비명	X-선 광전자 분광기(X-ray Photoelectron Spectrometer (XPS) Microprobe)
제작사	Thermo Scientific
모델명	ESCALAB 250
설치장소	RIST1동 1153호

장비명	주사형 오제 전자현미경(Scanning Auger Electron Spectroscopy (AES) Nanoprobe)
제작사	ULVAC-PHI
모델명	PHI 700
설치장소	RIST1동 1163호

장비명	전자선 미소부 분석기(Electron Probe Microanalyzer (EPMA))
제작사	SHIMADZU
모델명	EPMA-1600
설치장소	RIST1동 1194호

장비명	원자 흡수 분광기(Atomic Absorption Spectrometer (AAS))
제작사	Analytik Jena
모델명	contrAA 800
설치장소	RIST1동 1309호

장비명	범용 프로브 시스템(Universal Measurement Probe System)
제작사	TERALEADER
모델명	UMP100
설치장소	RIST3동 3170호

장비명	플라즈마 원자층 증착 시스템(Plasma Enhanced Atomic Layer Deposition (PE-ALD) System)
제작사	ForALL
모델명	OZONE
설치장소	RIST3동 3223호

장비명	3D 원자현미경(3D Atom Probe)
제작사	CAMECA Instruments
모델명	LA-WATAP
설치장소	나노융합기술원 105-2호

장비명	원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM))
제작사	Veeco
모델명	Dimension 3100
설치장소	나노융합기술원 1층 101호

장비명	주파수측정기(Universal Probe Holder)
제작사	MBRAUN
모델명	MB6000
설치장소	나노융합기술원 클린룸동 2층 클린룸

장비명	원자층 증착기(Atomic Layer Deposition (ALD))
제작사	QUROS
모델명	Plus 200
설치장소	나노융합기술원 클린룸동 2층 클린룸

장비명	시트 저항 측정 시스템(4 Point Probe)
제작사	(주)에이아이티
모델명	CMT-SR2000N
설치장소	나노융합기술원 클린룸동 2층 클린룸

장비명	[글로컬] 3D레진 프린터 +세척기 세트([Glocal] 3D Resin Printer + Washing Machine Set)
제작사	에이펙스쓰리디(APEX3D)
모델명	Form 4L Complete Package
설치장소	인공지능연구원 142호

장비명	[글로컬]모바일 로봇([Glocal]Mobile robot)
제작사	위고로보틱스 주식회사
모델명	RANGER MINI 3.0
설치장소	인공지능연구원 142호

장비명	[글로컬]모바일 로봇([Glocal]Mobile robot)
제작사	위고로보틱스 주식회사
모델명	RANGER MINI 3.0
설치장소	인공지능연구원 142호

장비명	주사 프로브 현미경(Scanning Probe Microscope (SPM))
제작사	Veeco
모델명	Dimension 3100
설치장소	제1공학관 208호

장비명	다목적 박막 표면구조 분석 원자 현미경 장비(Muti-purpose Atomic Force Microscope (AFM) System)
제작사	Bruker
모델명	MultiMode 8
설치장소	제3공학관 529호

장비명	나노시스 SPM 조절 시스템(Nanonis Scanning Probe Microscopy (SPM) Control System)
제작사	SPECS
모델명	SPECS Nanonis Controller
설치장소	제5공학관 008호

장비명	원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM))
제작사	SEIKO INSTRUMENTS INC.
모델명	SPI3800N Pro
설치장소	제5공학관 206-1호

장비명	팽창계수 측정기(Dilatometer System)
제작사	ERICH NETZSCH GmbH & Co. Holdi
모델명	DIL 402C Dilatometer
설치장소	제5공학관 206호

장비명	팽창계수 측정기(Dilatometer System)
제작사	bahr-thermoanalyse gmbh
모델명	DIL805A/D
설치장소	철강대학원 242-4호

사용정보
장비오픈여부	○
자율사용여부	○
사용료	250,000원/시간 (서비스), 150,000원/시간 (자율)
자산정보
취득금액	\ 1,489,452,179
취득일	2015-08-18
참조사항
첨부파일
URL	http://www.nano.or.kr/new2019/sub/equipment/index_sub.php?eqidx=218&equip_name=&equip_flag1=0&equip_flag2=3b&equip_flag3=3
키워드
Atom Probe Tomography, APT, 철강, 금속, 합금, 반도체, Concentration Profile, Chemical Composition, AP