Sheet resistance measurement
Method : contacted by four point probe
Rage : 1 mohm.sq ~ 2 Mohm/sq
Current Source : 10nA ~ 100mA
Wafer size : up to 8inch wafer
활용분야
Silicon wafer 를 전자동으로 표면저항을 측정할 수 있는 측정
전용 PC 를 이용하여 원격제어가 가능, 측정한 Data 를 분석할 수 있는 기능 을 제공