 기본정보 |
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설비번호 |
10146085 |
장비명(한글) |
 표면 물성 측정기
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장비명(영문) |
Force Tensiometer |
제작사 |
Kruss |
모델명 |
K100 |
| 상세정보 |
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장비사양 |
K100 performs high-precision, automatic and reliable measurements of surface tension and interfacial tension, critical micelle concentration CMC and contact angle on solids, fibers and powders. With high-quality components and a uniquely wide range of methods, the instrument carries out many tasks in the field of surfactant analysis and wetting measurement for your quality assurance or research. The simple changeover between different measuring methods takes place entirely without reconfiguring the instrument. |
활용분야 |
analyzing surfactants and solid surfaces |
| 장비운영인력 |
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설치장소 |
환경공학동 403호 |
소속 |
화학공학과 |
성명 |
송수진 |
전화 |
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이메일 |
hjchun@postech.ac.kr |
| 동일/유사장비정보 |
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장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
Park Systems |
모델명 |
XE7 |
설치장소 |
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장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
Park Systems |
모델명 |
XE7 |
설치장소 |
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장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
Bruker |
모델명 |
Dimension Icon with ScanAsyst |
설치장소 |
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장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
Veeco |
모델명 |
Dimension 3100 |
설치장소 |
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장비명 |
다목적 박막 표면구조 분석 원자 현미경 장비(Muti-purpose Atomic Force Microscope (AFM) System) |
제작사 |
Bruker |
모델명 |
MultiMode 8 |
설치장소 |
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장비명 |
원자간력 현미경(Atomic Force Microscope (AFM)) |
제작사 |
SEIKO INSTRUMENTS INC. |
모델명 |
SPI3800N Pro |
설치장소 |
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장비명 |
표면힘측정기(Surface Force Apparatus (SFA)) |
제작사 |
SurForce LLC |
모델명 |
SFA 2000 |
설치장소 |
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장비명 |
표면힘측정기(Surface Force Apparatus (SFA)) |
제작사 |
SurForce LLC |
모델명 |
SFA 2000 |
설치장소 |
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| 사용정보 |
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장비오픈여부 |
X |
자율사용여부 |
X |
사용료 |
- |
| 자산정보 |
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취득금액 |
\ 52,800,000 |
취득일 |
2019-03-19 |
| 참조사항 |
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첨부파일 |
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URL |
https://www.kruss-scientific.com/products/tensiometers/k100/force-tensiometer-k100/ |
| 키워드 |
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| precise measurement | |
