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전자스핀공명 분광광도계(Electron Spin Resonance Spectrometer (ESR))

장비정보
Equipment InformationEquip. Info.

예약 및 의뢰
Reservation

장비공지
Equip. Notice 장비공지
Equipment Notice

■ 장비공지 : 저온실험 예약 안내 / Notice for Reservation of Low-temp Experiments

기본정보
설비번호	10102828
장비명(한글)	전자스핀공명 분광광도계
장비명(영문)	Electron Spin Resonance Spectrometer (ESR)
제작사	Bruker Biospin GmbH
모델명	A200
상세정보
장비사양	W band 130K~295K 측정 가능
활용분야	재료 연구(자성체, 반도체, 고분자 등) 물리 연구(광학 특정, 자화도 측정, 분자의 여기상태 등) 방사선 연구(식품의 방사선 효과, 고고학, 생물체의 방사선 영향) 화학 연구(촉매, 금속착물, 유기금속, 스핀 트랩, 고분자 반응 등) 생물, 의학 연구(광합성, 조영제, 발암기작, 노화 현상 효소 반응 및 구조 등)
장비운영인력
설치장소	3352/3354호
소속	화학과
성명	김동영
전화
이메일	dk658dkim118@postech.ac.kr
동일/유사장비정보
장비명	UV-vis 분광광도계(UV-vis Spectrometer)
제작사	PerkinElmer
모델명	Lambda 750S
설치장소	RIST 3194호

장비명	X-선 광전자 분광기(X-ray Photoelectron Spectrometer (XPS) Microprobe)
제작사	Thermo Scientific
모델명	ESCALAB 250
설치장소	RIST1동 1153호

장비명	전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM))
제작사	Carl Zeiss
모델명	GeminiSEM 500
설치장소	RIST1동 1153호

장비명	전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM))
제작사	Carl Zeiss
모델명	AURIGA
설치장소	RIST1동 1163호

장비명	주사형 오제 전자현미경(Scanning Auger Electron Spectroscopy (AES) Nanoprobe)
제작사	ULVAC-PHI
모델명	PHI 700
설치장소	RIST1동 1163호

장비명	수차보정 주사투과전자현미경(Cs-Corrected Scanning Transmission Electron Microscope (Cs-STEM))
제작사	JEOL
모델명	JEM-ARM200F
설치장소	RIST1동 1176호

장비명	글로우 방전 분광 분석기(Glow Discharge Spectrometer)
제작사	LECO
모델명	GDS850A
설치장소	RIST1동 1183호

장비명	글로우 방전 분광 분석기(Glow Discharge Spectrometer)
제작사	LECO
모델명	GDS850A
설치장소	RIST1동 1185호

장비명	주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사	JEOL
모델명	JSM-6480LV
설치장소	RIST1동 1187호

장비명	전계방출 현미경(Field Emission Electron Microscope)
제작사	JEOL
모델명	JEM-2100F
설치장소	RIST1동 1188호

장비명	주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사	HITACHI
모델명	S-3400N
설치장소	RIST1동 1190호

장비명	전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM))
제작사	JEOL
모델명	JSM-7600F
설치장소	RIST1동 1192호

장비명	전자선 미소부 분석기(Electron Probe Microanalyzer (EPMA))
제작사	SHIMADZU
모델명	EPMA-1600
설치장소	RIST1동 1194호

장비명	고분해능 유도 결합 플라즈마 질량분석기(High Resolution Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer (HR-ICP-MS))
제작사	Thermo Scientific
모델명	ELEMENT XR
설치장소	RIST1동 1304호

장비명	적외선 분광기(Fourier-transform Infrared (FT-IR) Spectrometer)
제작사	Bruker
모델명	VERTEX 70
설치장소	RIST1동 1306호

장비명	레이저 유도 플라즈마 분광분석기(Tandem Laser-ablation Laser-induced Breakdown Spectrometer (LA-LIBS))
제작사	Applied Spectra
모델명	J200
설치장소	RIST1동 1306호

장비명	삼중 사극자 유도 결합 플라즈마 질량분석기(Triple Quadrupole Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer (TQ-ICP-MS))
제작사	Thermo Scientific
모델명	iCAP TQ
설치장소	RIST1동 1306호

장비명	기체 크로마토그래프 질량분석기(Gas Chromatograph-Mass Spectrometer (GC-MS))
제작사	SHIMADZU
모델명	GCMS-QP2010
설치장소	RIST1동 1308호

장비명	원자 흡수 분광기(Atomic Absorption Spectrometer (AAS))
제작사	Analytik Jena
모델명	contrAA 800
설치장소	RIST1동 1309호

장비명	순차 분석형 형광 X-선 분석장치(상면조사형)(Tube-above Sequential Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) Spectrometer)
제작사	Rigaku
모델명	ZSX Primus II
설치장소	RIST1동 1310호

장비명	순차 분석형 형광 X-선 분석장치(Sequential Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) Spectrometer)
제작사	Rigaku
모델명	ZSX Primus
설치장소	RIST1동 1310호

장비명	UV-vis 분광광도계(UV-vis Spectrometer)
제작사	Agilent Technologies
모델명	Cary 4000
설치장소	RIST3동 3102

장비명	분광시스템(Spectrometer System)
제작사	(주)영풍씨엠씨
모델명	CS-2000
설치장소	RIST3동 3169호

장비명	주사 투과 전자현미경(Scanning Transmission Electron Microscope (STEM))
제작사	COXEM
모델명	CX-200
설치장소	RIST3동 3188호

장비명	분광시스템(Spectrometer System)
제작사	Andor Technology
모델명	SR-303i
설치장소	RIST3동 3267호

장비명	UV-vis 분광광도계(UV-vis Spectrometer)
제작사	Agilent Technologies
모델명	Cary 5000
설치장소	RIST3동 3306호

장비명	400 MHz 핵자기공명분광분석기(400 MHz Nuclear Magnetic Resonance (NMR) Spectrometer)
제작사	Bruker
모델명	Avance 400
설치장소	RIST3동 3391호

장비명	주사전자현미경(S.E.M(SCANNING ELECTRON MICROSCOPE))
제작사	JEOL LTD
모델명	JSM-6390LV
설치장소	기계실험동 106호

장비명	주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사	JEOL
모델명	JSM-7401F
설치장소	나노융합기술원 103호

장비명	고속회전 건조기(Spin Dryer (High Spin))
제작사	KSM
모델명	KSD-6001
설치장소	나노융합기술원 216호

장비명	주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사	JEOL
모델명	JEM-2100F(with STEM Cs corrector)
설치장소	나노융합기술원 TEM 실

장비명	구면수차보정 초고분해능 주사투과전자현미경(Cs Corrected High-Resolution Scanning Transmission Electron Microscope (Cs-corrected HR-STEM))
제작사	JEOL
모델명	JEM-2200FS
설치장소	나노융합기술원 TEM-2200FS실

장비명	전계방사형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM))
제작사	LEO Elektronrnmikroskopie GmbH
모델명	FE-SEM
설치장소	나노융합기술원 클린룸동 2층 클린룸

장비명	고분자 유기 반도체 물질 도포 장치(Spin Coater with Glove Box)
제작사	세명에버에너지(주)
모델명	-
설치장소	나노융합기술원 클린룸동 2층 클린룸

장비명	임계치수 측정 주사전자현미경(Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM))
제작사	HITACHI
모델명	S-9380
설치장소	나노융합기술원 클린룸동 2층 클린룸

장비명	감광제 회전 도포기(Photoresist (PR) Spin Coater)
제작사	SAWATEC Solutions AG
모델명	LSM 250
설치장소	나노융합기술원 클린룸동 2층 클린룸

장비명	회전 건조기(Spin Dryer)
제작사	PTLKorea
모델명	8300S
설치장소	나노융합기술원 클린룸동 2층 클린룸

장비명	투과전자현미경(Transmission Electron Microscope (TEM))
제작사	JEOL
모델명	JEM-1011
설치장소	생명공학연구센터 156호

장비명	전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM))
제작사	JEOL
모델명	JEM-2100 (HR)
설치장소	제1공학관 105호

장비명	구면수차보정 초고분해능 주사투과전자현미경(Cs Corrected High-Resolution Scanning Transmission Electron Microscope(Cs-corrected HR-STEM))
제작사	JEOL
모델명	JEM-2200FS (UHR)
설치장소	제1공학관 109호

장비명	투과전자현미경(Transmission Electron Microscope (TEM))
제작사	HITACHI
모델명	7600H
설치장소	제1공학관 111호

장비명	주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사	HITACHI
모델명	S-3400N
설치장소	제1공학관 111호

장비명	전계방사형 주사전자 현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM))
제작사	PHILIPS ELECTRON OPTICS B.V.
모델명	XL30S FEG
설치장소	제1공학관 306-1호

장비명	850 MHz 핵자기공명분광분석기(850 MHz Nuclear Magnetic Resonance (NMR) Spectrometer)
제작사	Bruker
모델명
설치장소	제1실험동 108호

장비명	500 MHz 핵자기공명분광분석기[500 MHz NMR (#2)](500 MHz Nuclear Magnetic Resonance (NMR) Spectrometer [500 MHz NMR (#2)])
제작사	Bruker
모델명	AVANCE III HD
설치장소	제1실험동 110호

장비명	500 MHz 핵자기공명분광분석기[500 MHz NMR (#1)](500 MHz Nuclear Magnetic Resonance (NMR) Spectrometer [500 MHz NMR (#1)])
제작사	Bruker
모델명	AVANCE III 500
설치장소	제1실험동 110호

장비명	유도 결합 플라즈마 질량분석기(Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer (ICP-MS))
제작사	PerkinElmer
모델명	NexION-300D
설치장소	제1실험동 318호

장비명	고효율 이미징 시스템(Electron Multiplying Charge-Coupled Device (EMCCD))
제작사	Andor
모델명	iXon DU-897
설치장소	제3공학관 006호

장비명	사중극자 질량분석기(Quadrupole Mass Spectrometer)
제작사	HIDEN ANALYTICAL
모델명	HPR-20
설치장소	지곡연구동 226호

장비명	주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사	Bio-logic SAS
모델명	M470
설치장소	지곡연구동 228호

장비명	주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사	JEOL
모델명	JSM-6010LV
설치장소	지곡연구동 232호

장비명	투과전자현미경(Transmission Electron Microscope (TEM))
제작사	Carl Zeiss
모델명	Ultra-55
설치장소	철강대학원 154-6호

장비명	전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM))
제작사	JEOL
모델명	JSM-7100F
설치장소	철강대학원 154-6호

장비명	전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM))
제작사	JEOL
모델명	JEM-2100F
설치장소	철강대학원 161호

장비명	전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM))
제작사	JEOL
모델명	JXA-8530F
설치장소	철강대학원 163호

장비명	전계방사형 투과전자 현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM))
제작사	JEOL
모델명	JEM-7900F
설치장소	철강대학원 163호

장비명	발광분광분석기(Optical Emission Spectrometer)
제작사	OBLF gmbh
모델명	OBLF QSN 750
설치장소	철강대학원 171-3호

장비명	X-선 형광분석기(X-ray Spectrometer)
제작사	Bruker
모델명	S8 Tiger
설치장소	철강대학원 175-7호

장비명	TEM용 이온밀링시스템(Ion Milling System for Transmission Electron Microscope (TEM))
제작사	㈜지엘코퍼레이션
모델명	Gatan model 691
설치장소	철강대학원 284호

장비명	UV-vis/NIR 분광광도계(UV-vis/NIR Spectrometer)
제작사	SHIMADZU
모델명	UV-3600
설치장소	철강대학원 472호

장비명	이동식 질량 분석기(Mobile Bench-top Mass Spectrometer)
제작사	InProcess Instruments GmbH
모델명	GAM 400
설치장소	철강대학원 546호

장비명	저전압 고분해능 전계방출형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope)
제작사	CARL ZEISS MICROSCOP
모델명	Gemini 360
설치장소	친환경소재대학원 184, 186호

장비명	매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량분석기(Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization Time-of-Flight (MALDI-TOF) Mass Spectrometer)
제작사	BRUKER
모델명	Autoflex Speed LRF
설치장소	화학관 112호

장비명	고성능 액체크로마토그래피 선형 이온 트랩 질량 분석기(HPLC dual-cell linear ion trap mass spectrometer (HPLC-ESI-MS))
제작사	Thermo Scientific
모델명	LTQ Velos Pro
설치장소	화학관 112호

장비명	300 MHz 핵자기공명분광분석기(300 MHz Nuclear Magnetic Resonance (NMR) Spectrometer)
제작사	Bruker
모델명	AVANCE III 300
설치장소	화학관 122호

장비명	600 MHz 핵자기공명분광분석기(600 MHz Nuclear Magnetic Resonance (NMR) Spectrometer)
제작사	Bruker
모델명	AVANCE III 600
설치장소	화학관 122호

장비명	다중검출 유도결합플라즈마 질량분석기(Multi-Collector Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer (MC-ICP-MS))
제작사	Nu Instruments Ltd
모델명	Plasma 3
설치장소	환경공학동 105호

장비명	질량분석기(Mass Spectrometer)
제작사	JEOL
모델명	JMS-800D
설치장소	환경공학동 106호

장비명	안정 동위원소 비율 질량 분석기(Stable Isotope Ratio Mass Spectrometer)
제작사	Isoprime
모델명	IsoPrime 100
설치장소	환경공학동 206-2호

장비명	광 에너지 전환률 측정기(Incident Photon-to-electron Conversion Efficiency (IPCE) System)
제작사	NEWPORT
모델명	Newport 74125
설치장소	환경공학동 302호

장비명	적외선 분광기(Fourier-transform Infrared (FT-IR) Spectrometer)
제작사	Thermo Scientific
모델명	Nicolet iS50
설치장소	환경공학동 302호

장비명	매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량분석기(Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization Time-of-Flight (MALDI-TOF) Mass Spectrometer)
제작사	Bruker
모델명	Autoflex Max LRF
설치장소	환경공학동 320호

장비명	탁상형 주사전자현미경(Mini Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사	SEC
모델명	SNE4500M
설치장소	환경공학동 322호

장비명	유체흐름정지 분광광도계(Stopped-flow Spectrometer)
제작사	AppliedPhotophysics
모델명	SX20
설치장소	환경공학동 334호

장비명	적외선 분광기(Fourier-transform Infrared (FT-IR) Spectrometer)
제작사	PerkinElmer
모델명	Spectrum Two
설치장소	환경공학동 403호

장비명	탁상형 주사전자현미경(Mini Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사	SEC
모델명	SNE4000M
설치장소	환경공학동 410호

장비명	주사전자현미경(Scanning Electron Microscope (SEM))
제작사	JEOL
모델명	JSM-6510
설치장소	환경공학동 414호

장비명	적외선 분광기(Fourier-transform Infrared (FT-IR) Spectrometer)
제작사	Thermo Scientific
모델명	Nicolet 6700
설치장소	환경공학동 417호

장비명	사중극자 질량분석기(Quadrupole Mass Spectrometer)
제작사	HIDEN ANALYTICAL
모델명	HPR-20
설치장소	환경공학동 431호

장비명	적외선 분광기(Fourier-transform Infrared (FT-IR) Spectrometer)
제작사	Thermo Scientific
모델명	Nicolet iS50
설치장소	환경공학동 431호

장비명	적외선 분광기(Fourier-transform Infrared (FT-IR) Spectrometer)
제작사	Thermo Scientific
모델명	Nicolet iS20
설치장소	환경공학동 431호

사용정보
장비오픈여부	○
자율사용여부	○
사용료	30,000 won/20 min (295 K) // 50,000 won/20 min (130~295 K)
자산정보
취득금액	\ 196,426,730
취득일	2011-12-13
참조사항
첨부파일
URL
키워드
EPR, ESR