 기본정보 |
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설비번호 |
10048175 |
장비명(한글) |
 박막측정기
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장비명(영문) |
3D Profiler |
제작사 |
I&A TECHNOLOGY INC. |
모델명 |
3D Profiler |
| 상세정보 |
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장비사양 |
1. SYSTEM - Measurement Techniques : optical phase -shifting and white light vertical scanning interferometry - Measurement Capability : three - dimensional, non - contact, surface profile measurements - Objectives : 1.5X, 2.5X, 5.0X, 10X, 20X, 50X optional manual turret - Field-of -View Lenses : 0.5X, 0.75X, 1.0X, 1.5X, 2.0X - Measurement Array : user- selectable, maximum array 736 x 480 - Light Source : tungsten halogen lamp (user- replaceable) manual filter selection - Stages : manual; ±50.8 mm X/Y translation, ±4° tip/tilt; optional automated stitching stage, ±50.8 mm X/Y - Optical Assembly : integrated illuminator; interchangeable discrete field-of-view lenses; closed-loop precision vertical scanning assembly - Video Display : 127mm monochrome monitor - Computer System : PC with latest Celeron processor, 17 inch SVGA monitor; optional printers and network cards - Software : Wyko Vision32 software running under Microsoft Windows XP 2. PERFORMANCE - Vertical Measurement Range : 0.1 nm to 1 mm - Vertical Resolution : < 1 Ra - RMS Repeatability : 0.01 nm - Vertical Scan Speed : up to 7.2 μm/sec (288 μin./sec) - Lateral Spatial Sampling : 0.08 to 13.1μm - Field-of -View : 8.24 mm to 0.05 mm (larger areas with Data Stitching option) - Reflectivity : 1% to 100% 3. ENVIRONMENT - Temperature Range : between 15 and 30 °C - Humidity Range : ≤ 80%, non-condensing - Vibration : optional isolation system (recommended) 4. DIMENSIONS - Microscope : 399 mm W x 508 mm D x 737 mm H 5. WEIGHT - Microscope : does not exceed 56.7 kg - Shipping Weight : 204.1 kg 6. POWER REQUIREMENTS - Input Voltage : user- selectable 100 -120 VAC/200?240 VAC, 50-60 Hz - Power Consumption : < 300W - Compressed Air : 4.2 - 7.0 kg/cm (60?100 PSI ) for optional isolation system |
활용분야 |
비접촉식 3차원 구조분석 |
| 장비운영인력 |
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설치장소 |
나노융합기술원 클린룸동 2층 클린룸 |
소속 |
나노융합기술원 |
성명 |
김수곤 |
전화 |
054-279-0227 |
이메일 |
sukoni@postech.ac.kr |
| 동일/유사장비정보 |
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장비명 |
MJP 방식 3D 프린터(3D Printer with Multi Jetting Printing (MJP) Technology) |
제작사 |
3D SYSTEMS |
모델명 |
ProJet MJP 2500 |
설치장소 |
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장비명 |
3D 바이오 프린터(3D Bioprinter) |
제작사 |
T&R Biofab |
모델명 |
- |
설치장소 |
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장비명 |
3D 프린터(Standalone 3D printer system) |
제작사 |
3D Systems |
모델명 |
Figure 4 Standalone 3D Printer |
설치장소 |
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장비명 |
표면단차측정기(Surface Profiler) |
제작사 |
Veeco |
모델명 |
Dektak 150 |
설치장소 |
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장비명 |
3D 변형측정시스템(3D Deformation Analysis System) |
제작사 |
GOM international AG |
모델명 |
ARAMIS 12M |
설치장소 |
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장비명 |
박막측정기(Thin Film Measurement System) |
제작사 |
KSV INSTRUMENTS |
모델명 |
- |
설치장소 |
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장비명 |
3D 원자현미경(3D Atom Probe) |
제작사 |
CAMECA Instruments |
모델명 |
LA-WATAP |
설치장소 |
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장비명 |
3D 표면측정 시스템(3D Optical Surface Metrology System) |
제작사 |
Leica Microsystems |
모델명 |
DCM 3D |
설치장소 |
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장비명 |
접촉식 표면 단차측정기(Contact Surface Profiler) |
제작사 |
KLA Tencor |
모델명 |
D-600 |
설치장소 |
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장비명 |
[글로컬] 3D레진 프린터 +세척기 세트([Glocal] 3D Resin Printer + Washing Machine Set) |
제작사 |
에이펙스쓰리디(APEX3D) |
모델명 |
Form 4L Complete Package |
설치장소 |
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장비명 |
표면단차측정기(Alpha Step Surface Profiler) |
제작사 |
KLA TENCOR CORP. |
모델명 |
Alpha-step 500 |
설치장소 |
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장비명 |
광학식 3차원 비접촉 스캐너(Optical 3D Scanner) |
제작사 |
FARO |
모델명 |
Focus 3D S120 |
설치장소 |
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장비명 |
비접촉식 3차원 스캐너(Structured-light 3D Scanner) |
제작사 |
Breuckmann |
모델명 |
SmartSCAN3D-HE |
설치장소 |
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장비명 |
3D 프린터(3D Printer) |
제작사 |
Stratasys |
모델명 |
Objet Eden260V |
설치장소 |
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장비명 |
3D 프린터(3D Printer) |
제작사 |
(주)프로토텍 |
모델명 |
Dimension SST 1200es |
설치장소 |
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장비명 |
나노 표면 프로파일러(Nano Surface Profiler) |
제작사 |
나노시스템㈜ |
모델명 |
NanoScan-E1000(P) |
설치장소 |
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장비명 |
집속 이온빔(3차원-EBSD)(Focused Ion Beam (FIB; 3D-EBSD)) |
제작사 |
FEI |
모델명 |
Quanta 3D FEG |
설치장소 |
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장비명 |
3D 재료 분석(3D Materials Analysis) |
제작사 |
UES, INC |
모델명 |
Robo-Met. 3D Version 2 |
설치장소 |
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장비명 |
3차원세포프린터(3D Bioprinter) |
제작사 |
T&R Biofab |
모델명 |
DX-Printer |
설치장소 |
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장비명 |
3차원세포프린터(3D Bioprinter) |
제작사 |
T&R Biofab |
모델명 |
DX-Printer |
설치장소 |
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장비명 |
3D 바이오프린터(Extrusion-based 3D Bioprinter) |
제작사 |
CELLINK |
모델명 |
BIO X |
설치장소 |
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| 사용정보 |
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장비오픈여부 |
○ |
자율사용여부 |
○ |
사용료 |
30,000 원/회 (기본표:30,000원) |
| 자산정보 |
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취득금액 |
\ 97,939,687 |
취득일 |
2007-01-26 |
| 참조사항 |
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첨부파일 |
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URL |
http://ppewww.physics.gla.ac.uk/~williamc/NT1100_spec.pdf |
| 키워드 |
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| Profiler, Ra, non contact | |
