-0.1fA 및 0.5V까지 전류-전압(IV) 측정 지원
-준정적 및 중간 주파수 캐패시턴스-전압(CV) 측정 지원
-펄스 IV, NBTI 및 RTS 노이즈(RTN) 측정과 같이 다양한 테스트에서 정확하고 빠른 IV 및 시간 도메인 측정 지원
-고전력 및 메모리 디바이스 테스트에 적합한 고전압 펄스 발생(최대 ±40V) 지원
활용분야
B1500A 반도체 디바이스 분석기는 10개의 슬롯으로 구성된 모듈식 계측기로서 IV 및 CV 측정과 빠른 고전압 펄스 발생을 지원하며, 아주 낮은 전류와 낮은 전압, 그리고 통합된 캐패시턴스 측정 기능을 지원하므로 광범위한 반도체 디바이스 특성 분석 요구 사항에 맞게 사용하는 데 전혀 손색이 없습니다(IC-CAP가 B1500A 지원). 또한 비휘발성 메모리 셀 특성 분석과 고속 디바이스 특성 분석(고급 NBTI 및 RTS 노이즈(RTN) 측정 포함)에도 뛰어난 솔루션입니다.
사용정보
반도체 디바이스 분석기