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기술지원센터-MPK 공동운영 신규 FIB(Focused Ion Beam) 분석서비스 이용 안내
글쓴이 : 관리자 | 조회수 : 1656 | 작성일자 : 2016-09-07 16:20:16

기술지원센터-MPK 공동운영으로 신규 설치된 FIB 분석서비스를 9월 12일(월)부터 시작합니다.

신규 도입된 FEI사 Dual Beam FIB는 TEM 시편 제작을 위한 EasyLift 및

각종 나노 패턴 및 구조체 제작을 위한 Nanobuilder 소프트웨어를 포함하여 다양한 응용이 가능한 최신의 장비입니다.

 

- 신규 FIB 소개 –
1. 모델명: Nanolab G3 CX
2. 제조사: FEI
3. 설치장소: 제1공학관 304호 FIB실
4. 시험분석료: 120,000원/60분(내부), 180,000원/60분(외부)

 

- 지원서비스 -
▶ 고해상도 SEM 측정
▶ Cross-Section 측정
▶ EasyLift를 활용한 TEM 시편 제작
▶ Nanobuilder 소프트웨어를 활용한 각종 나노패턴 및 구조체 제작 등

 

장비관련 문의사항이 있으신 분은 기술지원센터 이양형(내선 3657)로 연락바랍니다.

많은 이용 부탁드립니다. 감사합니다.
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New FIB System Announcement

The new FIB system will be available on September 12th in the Technical Support Center-MPK.

 

- New FIB Features -
1. Model: Nanolab G3 CX
2. Production: FEI
3. Location: Science Building I, room no. 304
4. Fare: 120,000 KRW/60 min (inside), 180,000 KRW/60 min (outside)

 

- Services -
▶ High resolution electron, ion imaging
▶ Cross-section imaging
▶ TEM sample preparation using EasyLift
▶ Various nano-pattern and nano-structure work using Nanobuilder software etc.

 

For any inquiries on FIB, please contact Yang Hyoung Lee at 279-3657.

 
 
           
경상북도 포항시 남구 지곡로127번길 50 포항공과대학교 기술지원센터 T:054-279-2793, F:054-279-3659
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